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基于FP干涉计并联结构及光热技术的强度探测型气体传感器
| 专利名称： | 基于FP干涉计并联结构及光热技术的强度探测型气体传感器 |
| 摘要： | 基于FP干涉计并联结构及光热技术的强度探测型气体传感器，属于气体浓度测量技术领域。本发明解决了现有光纤气体传感器的灵敏度有待提升的问题。创新点：探测激光器、隔离器I和耦合器I依次连接，泵浦激光器、隔离器II与耦合器I依次连接；耦合器II、滤波器、光电探测器、数据采集卡、电脑依次连接；环形器I和环形器II并联设置在耦合器I与耦合器II之间的光路上，环形器I与FP干涉计I连接，环形器II与FP干涉计II连接，衰减器连接在环形器II与耦合器II之间的光路上。本发明将两个FP干涉计并联，利用游标效应的增敏特性来提高气体测量灵敏度，使被测气体测量灵敏度提高1‑2个数量级。 |
| 专利类型： | 发明专利 |
| 国家地区组织代码： | 黑龙江;23 |
| 申请人： | 哈尔滨理工大学 |
| 发明人： | 李林军;杨玉强;姜久兴 |
| 专利状态： | 有效 |
| 申请号： | CN201910043922.3 |
| 公开号： | CN109507128A |
| 代理机构： | 哈尔滨市伟晨专利代理事务所(普通合伙) 23209 |
| 代理人： | 李晓敏 |
| 分类号： | G01N21/31(2006.01)I;G;G01;G01N;G01N21 |
| 申请人地址： | 150080 黑龙江省哈尔滨市南岗区学府路52号 |
| 主权项： | 1.基于FP干涉计并联结构及光热技术的强度探测型气体传感器，其特征在于：包括探测激光器、隔离器I、隔离器II、耦合器I、耦合器II、泵浦激光器、环形器I、环形器II、衰减器、滤波器、光电探测器、数据采集卡、电脑、FP干涉计I和FP干涉计II；所述探测激光器、隔离器I和耦合器I依次连接，所述泵浦激光器、隔离器II与耦合器I依次连接；所述耦合器II、滤波器、光电探测器、数据采集卡、电脑依次连接；环形器I和环形器II并联设置在耦合器I与耦合器II之间的光路上，环形器I与FP干涉计I连接，环形器II与FP干涉计II连接，衰减器连接在环形器II与耦合器II之间的光路上；探测光的光学路径为：探测光由探测激光器发出，经过隔离器I，进入耦合器I分成两束光；一束光经环形器I进入FP干涉计I，再经环形器I进入耦合器II，另一束光经环形器II进入FP干涉计II，再经环形器II依次进入衰减器、耦合器II，两束光于耦合器II合成一束光后依次进入滤波器和光电探测器；光电探测器将接收的探测光能量转化为电压输出给数据采集卡及电脑；泵浦光的光学路径为：泵浦光由泵浦激光器发出，依次经过隔离器II进入隔离器II及耦合器I，经耦合器I分光后一束光经环形器I进入FP干涉计I，另一束光经环形器II进入FP干涉计II。 |
| 所属类别： | 发明专利 |
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