专利名称: |
薄板薄膜材料导热系数测量装置和测量方法 |
摘要: |
本发明提供了一种薄板薄膜材料导热系数测量装置和测量方法,适用于较便捷地测定厚度在0.2mm~3.0mm范围的薄板、薄膜类材料的导热系数。本方法测量导热系数时,将待测材料与一块导热系数已知的测量板完全贴合粘接制成组合试验件,试验中测定一定热流密度下的样品测点温差,根据傅里叶导热定律计算组合样品的当量导热系数,再根据导热规律经过反演分析得到待测材料的导热系数。克服了较薄的材料特别是薄膜类材料导热系数不便于测量的缺点,并有效率高、测量结果准确度较高的优点。 |
专利类型: |
发明专利 |
国家地区组织代码: |
上海;31 |
申请人: |
上海卫星装备研究所 |
发明人: |
庞乐;赵凯璇;代善良;张学迅 |
专利状态: |
有效 |
申请号: |
CN201811520164.1 |
公开号: |
CN109507229A |
代理机构: |
上海段和段律师事务所 31334 |
代理人: |
李佳俊;郭国中 |
分类号: |
G01N25/20(2006.01)I;G;G01;G01N;G01N25 |
申请人地址: |
200240 上海市闵行区华宁路251号 |
主权项: |
1.一种薄板薄膜材料导热系数测量装置,其特征在于,包括组合试验件(2)、数据处理模块(3)以及电源模块(4);所述组合试验件(2)包括温度传感器(24);所述数据处理模块(3)能够对温度传感器(24)采集得到的温度数据进行处理计算;所述电源模块(4)能够提供能源。 |
所属类别: |
发明专利 |