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一种基于谐振腔和FRET效应的激光检测系统及方法
| 专利名称： | 一种基于谐振腔和FRET效应的激光检测系统及方法 |
| 摘要： | 一种基于谐振腔和FRET效应的激光检测系统及方法，包括激光源模块、谐振腔模块、光学准直模块和信号接收模块，激光源模块用于提供激光源，光学准直模块用于将激光源耦合到谐振腔模块以及将谐振腔模块产生的信号光采集到光谱仪中；谐振腔模块用于产生光谐振和FRET效应，包括能够产生光谐振的微腔，微腔周围能够产生FRET效应的荧光受体物质；信号接收模块用于接收、分析、存储信号光。激光源模块产生激光，经过光学准直模块将激光源耦合到谐振腔模块，激发微腔产生谐振，进而激发微腔周围的荧光受体物质产生FRET效应，产生信号光；若获得的信号光与标准信号光存在特异性差别，则表明待测分子存在，实现了谐振腔外微量物质的检测。 |
| 专利类型： | 发明专利 |
| 国家地区组织代码： | 北京;11 |
| 申请人： | 北京工业大学 |
| 发明人： | 王秀红;乔鹏飞;王璞;王亚平 |
| 专利状态： | 有效 |
| 申请号： | CN201811515899.5 |
| 公开号： | CN109507162A |
| 代理机构： | 北京思海天达知识产权代理有限公司 11203 |
| 代理人： | 吴荫芳 |
| 分类号： | G01N21/64(2006.01)I;G;G01;G01N;G01N21 |
| 申请人地址： | 100124 北京市朝阳区平乐园100号 |
| 主权项： | 1.一种基于谐振腔和FRET效应的激光检测系统，其特征在于：该系统包括激光源模块(1)、谐振腔模块(2)、光学准直模块(3)和信号接收模块(4)，其中，激光源模块(1)用于提供激光源，包括激光源(11)，连续衰减片(12)；光学准直模块(3)用于将激光源耦合到谐振腔模块(2)，以及将谐振腔模块(2)产生的信号光采集到光谱仪中，包括两块焦距重合的显微物镜(31)(32)，二向色镜(33)，凸透镜(34)和摄像头(35)；谐振腔模块(2)用于产生光谐振和FRET效应，包括能够产生光谐振的微腔，微腔周围能够产生FRET效应的荧光受体物质，以及三维调整架；信号接收模块(4)用于接收、分析、存储信号光，包括滤波片(41)，非球面透镜(42)，光谱仪(43)；激光源(11)的输出激光依次经过连续衰减片(12)、二向色镜(33)、显微物镜(31)、谐振腔模块(2)产生了信号光，信号光分为两部分，一部分信号光依次经过显微物镜(32)、滤波片(41)、非球面透镜(42)，最后进入光谱仪(43)进行接收、分析、存储，另一部分信号光依次经过显微物镜(31)、二向色镜(33)、凸透镜(34)和摄像头(35)，用于实时观察激光与谐振腔的耦合效果，根据实时观察到的图像，用三维调整架调整微腔位置实现最佳耦合。 |
| 所属类别： | 发明专利 |
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