专利名称: |
基于快速傅里叶变换和线性高斯的口罩检测系统及方法 |
摘要: |
本公开提供一种基于快速傅里叶变换和线性高斯的口罩检测系统,包括:图像采集装置,采集待测口罩的图像;读取装置,读取采集的待测口罩图像,以及读取口罩模板文件和靶标标定参数;以及检测装置,基于读取结果,检测待测口罩尺寸、口罩耳带长度、口罩内铝条长度,口罩排牙缺陷,以及口罩表面污渍;其中,检测装置通过快速傅里叶变换去除待测口罩图像上的背景压花纹理,基于去除了背景压花纹理的待测口罩图像信息,检测装置通过线性高斯算法检测口罩表面污渍;本公开同时提供一种采用基于快速傅里叶变换和线性高斯的口罩检测系统对口罩进行检测的方法。 |
专利类型: |
发明专利 |
国家地区组织代码: |
北京;11 |
申请人: |
航天科工智能机器人有限责任公司 |
发明人: |
张佳琳;刘遥峰;蒋振东;张衡;杨政 |
专利状态: |
有效 |
申请号: |
CN201811532461.8 |
公开号: |
CN109507198A |
代理机构: |
北京鼎承知识产权代理有限公司 11551 |
代理人: |
韩德凯;李伟波 |
分类号: |
G01N21/88(2006.01)I;G;G01;G01N;G01N21 |
申请人地址: |
100074 北京市丰台区云岗北区西里1号院501楼 |
主权项: |
1.基于快速傅里叶变换和线性高斯的口罩检测系统,其特征在于,包括:图像采集装置,采集待测口罩的图像;读取装置,读取采集的待测口罩图像,以及读取口罩模板文件和靶标标定参数;以及检测装置,基于读取结果,检测待测口罩尺寸、口罩耳带长度、口罩内铝条长度,口罩排牙缺陷,以及口罩表面污渍;其中,所述检测装置通过快速傅里叶变换去除所述待测口罩图像上的背景压花纹理,基于去除了背景压花纹理的待测口罩图像信息,所述检测装置通过线性高斯算法检测口罩表面污渍。 |
所属类别: |
发明专利 |