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一种连续测量材料高温方向光谱发射率的方法
| 专利名称： | 一种连续测量材料高温方向光谱发射率的方法 |
| 摘要： | 本发明涉及材料热物性测量技术领域，尤其涉及一种连续测量材料高温方向光谱发射率的方法。该方法通过调整所述电磁感应加热系统的加热温度以及分别调整所述辐射测量光路系统相对面源黑体和待测件的角度，分别得到面源黑体和待测件在不同波长、不同温度、不同角度时的方向光谱辐射能量，进而得到待测件的方向光谱发射率，该方法能够一次试验测量到材料高温/超高温不同角度方向、不同波段的光谱发射率，降低了测试难度，减少了测试工作量。 |
| 专利类型： | 发明专利 |
| 国家地区组织代码： | 北京;11 |
| 申请人： | 航天特种材料及工艺技术研究所 |
| 发明人： | 周金帅;王阳;高增华;汤龙生;裴雨辰;赵英民 |
| 专利状态： | 有效 |
| 申请号： | CN201811435291.1 |
| 公开号： | CN109507222A |
| 代理机构： | 北京格允知识产权代理有限公司 11609 |
| 代理人： | 李亚东 |
| 分类号： | G01N25/00(2006.01)I;G;G01;G01N;G01N25 |
| 申请人地址： | 100074 北京市丰台区云岗北里40号院 |
| 主权项： | 1.一种连续测量材料高温方向光谱发射率的方法，其特征在于:提供具有支撑部的工作平台、测温装置、傅里叶光谱仪、电磁感应加热系统和计算机，在所述工作平台上设有测温光路系统和辐射测量光路系统；所述测温光路系统将采集的辐射转换为平行光并传至测温装置；所述辐射测量光路系统通过旋转部安装在所述工作台，将采集的辐射转换为平行光传导至傅里叶光谱仪；将黑体炉放置在所述支撑部上，先利用所述黑体炉对测温装置进行标定；取下所述黑体炉，将面源黑体放置在所述支撑部，利用所述面源黑体对所述傅里光谱仪进行标定并得到所述面源黑体的辐射能量，在对所述傅里光谱仪进行标定的过程中，所述测温光路系统和所述辐射测量光路系统采集点重合，所述电磁感应加热系统为所述面源黑体加热，所述旋转台能够带动所述辐射测量光路系统相对所述待测件连续转动，并保持所述辐射测量光路系统的采集点位置不变，通过调整所述电磁感应加热系统的加热温度以及所述辐射测量光路系统相对所述面源黑体的角度，得到所述面源黑体在不同波长、不同温度、不同角度时的方向光谱辐射能量；取下所述面源黑体，将待测件放置在所述支撑部，使所述测温光路系统和所述辐射测量光路系统的采集点重合且位于所述待测件上，通过调整所述电磁感应加热系统的加热温度以及所述辐射测量光路系统相对所述面源黑体的角度，得到所述待测件在不同波长、不同温度、不同角度时的方向光谱辐射能量；在测试过程中，所述测温装置和所述傅里叶光谱仪将得到的数据传至所述计算机，所述计算机利用得到的数据得到的所述在不同波长、不同温度和不同角度时的方向光谱发射率。 |
| 所属类别： | 发明专利 |
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