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原文传递 IC芯片测试机的翻转上料装置
专利名称: IC芯片测试机的翻转上料装置
摘要: 本发明公开了一种IC芯片测试机的翻转上料装置,包括放置IC料管的载料台、将IC芯片取出的上料机构和用于IC芯片传输的料道,载料台设有料仓和推送机构,所述推送机构能够夹持料仓内的IC料管并将其推出至载料台的预定位置,所述上料机构包括用于夹取载料台上的IC料管的夹持机构和翻转机构,所述夹持机构能够夹取所述IC料管,所述翻转机构驱动所述夹持机构翻转,使被夹取的所述IC料管与所述载料台垂直并且与所述料道连通,从而使所述IC料管内的所述IC芯片能够从IC料管滑入料道。本发明通过旋转机构翻转夹持有IC料管的夹持机构,使其从平行状态变为垂直状态,从而可以使IC料管内的IC芯片滑出至与IC料管连通的料道内。
专利类型: 发明专利
国家地区组织代码: 江苏;32
申请人: 昆山宇辰光通自动化科技有限公司
发明人: 张英乾;张博
专利状态: 有效
申请号: CN201910011227.9
公开号: CN109502296A
代理机构: 苏州周智专利代理事务所(特殊普通合伙) 32312
代理人: 周雅卿
分类号: B65G47/248(2006.01)I;B;B65;B65G;B65G47
申请人地址: 215300 江苏省苏州市昆山市玉山镇恒龙国际机电五金市场6号楼9室
主权项: 1.一种IC芯片测试机的翻转上料装置,其特征在于:包括放置IC料管(1001)的载料台(1002)、用于将所述IC料管内的IC芯片取出的上料机构(1003)和用于所述IC芯片传输的料道(1004),所述载料台为水平设置,所述料道与所述载料台垂直;所述载料台设有料仓(1005)和推送机构(1006),所述IC料管水平叠加放置于所述料仓内,所述推送机构位于所述料仓的底端,所述推送机构包括料管滑块(10061)和驱动所述料管滑块的驱动单元(10062),所述料管滑块能够夹持所述料仓内的一个所述IC料管并通过所述驱动单元将其推出至所述载料台的预定位置;所述上料机构包括用于夹取所述载料台上的所述IC料管的夹持机构(10031)和翻转机构(10032),所述夹持机构包括翻转板(100311)和夹持块(100312),所述IC料管位于所述翻转板和所述夹持块夹持块和之间,所述夹持块设有驱动单元,所述驱动单元驱动所述夹持块远离或靠近所述翻转板,从而能够夹取所述IC料管,所述翻转机构驱动所述夹持机构翻转,使被夹取的所述IC料管与所述载料台垂直并且与所述料道连通,从而使所述IC料管内的所述IC芯片能够从所述IC料管滑入所述料道。
所属类别: 发明专利
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