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基于聚合物和多层金属纳米粒子修饰的光学微流控芯片
| 专利名称： | 基于聚合物和多层金属纳米粒子修饰的光学微流控芯片 |
| 摘要： | 本发明提供一种光学微流控芯片，包括：芯片沟道层(3)，包括进样区(3‑1)、进样沟道(3‑2)、光学检测区(3‑3)、废液沟道(3‑4)及废液存储区(3‑5)，进样沟道(3‑2)内设有混溶微米结构(7)，废液沟道(3‑4)内设有至少一段时间控制溶解膜(8)，在光学检测区(3‑3)上设有荧光检测器件(13)，在光学检测区(3‑3)内设有捕获抗体/识别物(9)，在进样沟道(3‑2)进口设有标记抗体/识别物(10)；在芯片沟道层(3)两侧设有芯片底层板(1)及芯片上层盖板(2)，芯片底层板(1)由聚合物及多层金属纳米粒子修饰层(6)修饰而成。该芯片在检测时灵敏度高，不受入射光和多余荧光粒子干扰，且无需复杂泵阀等装置和设备，利于现场快速检测。 |
| 专利类型： | 发明专利 |
| 国家地区组织代码： | 北京;11 |
| 申请人： | 中国科学院电子学研究所 |
| 发明人： | 刘春秀;薛宁;孙建海;徐成华;蔡浩原;李彤 |
| 专利状态： | 有效 |
| 申请号： | CN201811645650.6 |
| 公开号： | CN109507422A |
| 代理机构： | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 |
| 代理人： | 周天宇 |
| 分类号： | G01N33/543(2006.01)I;G;G01;G01N;G01N33 |
| 申请人地址： | 100190 北京市海淀区北四环西路19号 |
| 主权项： | 1.一种光学微流控芯片，用于样品检测，其特征在于，包括：芯片沟道层(3)，包括进样区(3‑1)、光学检测区(3‑3)及废液存储区(3‑5)，所述进样区(3‑1)与所述光学检测区(3‑3)通过进样沟道(3‑2)连接，所述光学检测区(3‑3)与所述废液存储区(3‑5)之间通过废液沟道(3‑4)连接，其中，所述进样沟道(3‑2)内设有混溶微米结构(7)，所述废液沟道(3‑4)内设有至少一段时间控制溶解膜(8)，在所述光学检测区(3‑3)上设有荧光检测器件(13)，在所述光学检测区(3‑3)内设有捕获抗体/识别物(9)，在所述进样沟道(3‑2)的进口设有标记抗体/识别物(10)；在所述芯片沟道层(3)两侧设有芯片底层板(1)及芯片上层盖板(2)，将所述芯片沟道层(3)密封；其中，芯片底层板(1)由聚合物及多层金属纳米粒子修饰层(6)修饰而成，用于检测样品全内反射光信号。 |
| 所属类别： | 发明专利 |
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