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一种柱透镜变换的激光粒度测试方法
| 专利名称： | 一种柱透镜变换的激光粒度测试方法 |
| 摘要： | 一种柱透镜变换的激光粒度测试方法。解决前向小角度激光衍射颗粒粒度分布测量中，使用通用型线性阵列的光电探测器件接收信号困难的问题。由激光器(1)发出的光经扩束准直后成为圆形平行光，照射在颗粒样品(2)区域，颗粒对光发生衍射。颗粒的衍射光由柱透镜(3)作为接收透镜，实现傅立叶变换，从而在柱透镜的焦平面上形成角分布。将光电探测器阵列(4)放在柱透镜的焦平面上，采集颗粒的衍射角分布信号并传输到计算机进行处理，得到颗粒粒度分布。由于入射平行光的像斑在柱透镜的焦平面会聚成一条直线，而不是球透镜焦平面上的会聚点，因此强度低，处理方便，从而对探测颗粒衍射光有利。颗粒衍射信号经柱透镜变换后，用通用型线性阵列光电探测器进行接收。 |
| 专利类型： | 发明专利 |
| 国家地区组织代码： | 天津;12 |
| 申请人： | 河北工业大学 |
| 发明人： | 魏永杰;车进超;马宝强 |
| 专利状态： | 有效 |
| 申请号： | CN201910071693.6 |
| 公开号： | CN109520898A |
| 分类号： | G01N15/02(2006.01)I;G;G01;G01N;G01N15 |
| 申请人地址： | 300401 天津市北辰区双口镇西平道5340号 |
| 主权项： | 1.一种柱透镜变换的激光粒度测试方法，其特征在于该方法涉及的硬件包括激光器(1)、颗粒样品(2)、接收柱透镜(3)、光电探测器阵列(4)。具体测量方法如下：由激光器发出的光经扩束准直后成为圆形平行光，照射在颗粒样品区域，颗粒对光发生衍射。颗粒的衍射光由柱透镜作为接收透镜，实现傅立叶变换，从而在柱透镜的焦平面上形成角分布。将光电探测器阵列放在柱透镜的焦平面上，采集颗粒衍射的角分布信号并传输到计算机进行处理，得到颗粒粒度分布。 |
| 所属类别： | 发明专利 |
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