专利名称: |
一种荧光相关光谱测量系统 |
摘要: |
本发明属于光谱检测系统技术领域,特别涉及一种荧光相关光谱测量系统,利用拉锥光纤将激发光限制在飞升体积内,同时利用光纤收集荧光信号进行时间相关光子计数,从而获取荧光相关光谱;该方法避免了荧光共聚焦显微镜、全内反射荧光显微镜或者双光子荧光显微镜的使用,降低了荧光相关光谱的测量成本,同时可以将光纤深入溶液中、反应器内、微流控芯片内、细胞内或者体内,消除了成像设备的空间限制,可以广泛应用于生命科学、物理学和化学领域的反应动力学研究、活细胞分析、生物检测、疾病诊断和药物筛选等方面。 |
专利类型: |
发明专利 |
国家地区组织代码: |
江苏;32 |
申请人: |
东南大学 |
发明人: |
赵祥伟;李绍华;崔玉军 |
专利状态: |
有效 |
申请号: |
CN201811382587.1 |
公开号: |
CN109520982A |
代理机构: |
南京众联专利代理有限公司 32206 |
代理人: |
卢倩 |
分类号: |
G01N21/64(2006.01)I;G;G01;G01N;G01N21 |
申请人地址: |
210096 江苏省南京市玄武区四牌楼2号 |
主权项: |
1.一种荧光相关光谱测量系统,包括激发光源、第一透镜、第一滤色片、二向色镜、物镜、光纤、光纤锥体、第二滤色片、第二透镜和检测器;其特征在于,所述光纤锥体的端面设置有纳米孔;所述激发光源发出的激光经过第一透镜、第一滤色片和二向色镜进入物镜,然后通过物镜聚焦进入光纤和光纤锥体,最后在纳米孔中形成空间限域激发;纳米孔内的激发荧光通过光纤,物镜,二向色镜,第二滤色片和第二透镜进入检测器。 |
所属类别: |
发明专利 |