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原文传递一种测量砖的烧制温度的方法

专利名称：	一种测量砖的烧制温度的方法
摘要：	本发明公开了一种测量砖的烧制温度的方法，其中，包括步骤：获取砖体并磨平；测量砖体在不同温度下的磁化率，得到磁化率‑温度图；计算两个相邻温度下砖体磁化率的变化，得出磁化率变化‑温度图；通过磁化率变化‑温度图横、纵坐标的变化，判断砖体的烧制温度。本发明测量砖的烧制温度的方法，操作简单，对砖体的质量和尺寸无要求，可定量化测得砖的烧制温度且误差小。
专利类型：	发明专利
国家地区组织代码：	北京;11
申请人：	中国地质大学（北京）
发明人：	张中俭;申佳妮
专利状态：	有效
申请号：	CN201811488161.4
公开号：	CN109521044A
代理机构：	深圳市道臻知识产权代理有限公司 44360
代理人：	陈琳;孟智广
分类号：	G01N25/12(2006.01)I;G;G01;G01N;G01N25
申请人地址：	100000 北京市海淀区学院路29号
主权项：	1.一种测量砖的烧制温度的方法，其特征在于，包括：步骤S100、获取砖体，将需要测量的砖体表面磨平；步骤S200、预估砖体烧制温度的范围[T,T’]，将一组砖体置于高温炉中，并升温至T，稳定一段时间后降至室温，测量砖体的磁化率，获得砖体在温度T下的磁化率值；之后每次增加温度间隔ΔT，重复上述升温、降温和测量磁化率的步骤，直至温度达到T’，获取这组砖体在相应温度下的磁化率值，得到磁化率‑温度图；步骤S300、计算步骤S200所获得的两个相邻温度下的磁化率的变化，得出磁化率变化‑温度图；步骤S400、根据步骤S300得到的磁化率变化‑温度图，分析横、纵坐标的变化，判断砖体的烧制温度。
所属类别：	发明专利