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基于剖面元素分析的硅橡胶老化深度定量检测方法
| 专利名称： | 基于剖面元素分析的硅橡胶老化深度定量检测方法 |
| 摘要： | 本发明涉及一种基于剖面元素分析的硅橡胶老化深度定量检测方法，主要用于对硅橡胶老化深度的定量检测，并以此衡量硅橡胶的老化程度。它主要包括制样、扫描电镜观察、EDS线扫描分析、老化深度分析等步骤。本检测方法可以实现对老化后的硅橡胶片样或运行复合绝缘子伞裙试样老化深度的定量检测，为定量评估硅橡胶的老化状态以及对比样品之间的性能提供了有力方法。 |
| 专利类型： | 发明专利 |
| 国家地区组织代码： | 湖北;42 |
| 申请人： | 武汉大学 |
| 发明人： | 王建国;肖雄;童瑶;黄焕;宋师男;谢思洋;樊亚东;蔡力 |
| 专利状态： | 有效 |
| 申请号： | CN201811433516.X |
| 公开号： | CN109521037A |
| 代理机构： | 武汉科皓知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 42222 |
| 代理人： | 鲁力 |
| 分类号： | G01N23/225(2018.01)I;G;G01;G01N;G01N23 |
| 申请人地址： | 430072 湖北省武汉市武昌区珞珈山武汉大学 |
| 主权项： | 1.一种基于剖面元素分析的硅橡胶老化深度定量检测方法，其特征在于，包括以下步骤：步骤1、取老化后的硅橡胶片样或运行复合绝缘子伞裙护套试样，制取可观察的剖面试样，具体是先将试样削成梯形体，老化的一面为短的一边，其反面为长的一边，以便区分出老化的一面，再采用冷冻切刀切片，取样品纵剖截面，即垂直于表面的切面；步骤2、用扫描电镜观察剖面形貌，根据观察到的老化情况确定合适的放大倍数，找出老化表面所在的位置。放大倍数在1000倍～10000倍左右；步骤3、利用EDS线扫描在指定的观察区域沿垂直于表面的方向进行元素分析，得到剖面各元素含量百分比沿深度变化情况，具体是C、O、Si、Al四种元素含量随老化深度的变化规律；步骤4、根据各元素含量随深度的变化曲线，找到转折点位置，得到老化层深度数值。 |
| 所属类别： | 发明专利 |
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