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基于差影法与局部方差测量算子的复杂瓷砖表面缺陷检测方法
| 专利名称： | 基于差影法与局部方差测量算子的复杂瓷砖表面缺陷检测方法 |
| 摘要： | 本发明公开了一种基于差影法与局部方差测量算子的复杂瓷砖表面缺陷检测方法，该方法采用基于图像的差分运算与改进的局部方差测量算子代替缺陷轮廓提取的方式。首先，对每一块缺陷瓷砖采用聚类方法分割出图像中的显著性区域；然后，采用差影法获取图像的大致缺陷区域；最后，通过计算缺陷边缘像素点与其周围像素点的局部方差值，对缺陷瓷砖的轮廓进行提取，经过平滑和填充等形态学操作之后，最终获得精确完整的缺陷区域。本发明利用差影法与改进的局部方差测量算子对复杂瓷砖表面进行缺陷检测方法具有旋转不变性的效果，计算复杂度低，且检测效率高，具有较好的鲁棒性，特别是对低质量瓷砖缺陷的识别也具有较好的效果。 |
| 专利类型： | 发明专利 |
| 国家地区组织代码： | 江西;36 |
| 申请人： | 南昌航空大学 |
| 发明人： | 李军华;权小霞;汪宇玲;陈昊 |
| 专利状态： | 有效 |
| 申请号： | CN201910062683.6 |
| 公开号： | CN109540925A |
| 代理机构： | 南昌市平凡知识产权代理事务所 36122 |
| 代理人： | 许艳 |
| 分类号： | G01N21/956(2006.01)I;G;G01;G01N;G01N21 |
| 申请人地址： | 330063 江西省南昌市丰和南大道696号 |
| 主权项： | 1.一种基于差影法和局部方差测量算子的复杂瓷砖表面缺陷检测方法，其特征在于，顺序执行如下步骤：步骤1)图像预处理：输入标准瓷砖图像I和待检测瓷砖图像D，采用中值滤波技术对其进行预处理操作滤除图像表面的噪声点，提高图像的质量，得到预处理后的图像为I1和D1；步骤2)k‑means聚类分割：对预处理后的图像I1和D1的图像区域进行聚类分组，将其分成有意义的部分包括图像的前景和背景两部分，完成对瓷砖图像的分割，得到标准瓷砖图像和待检测瓷砖图像中的显著性区域图像I2和D2；步骤3)差影法：将经过预处理和图像分割后的标准瓷砖图像I2与待检测瓷砖图像D2之间做差分运算，将它们对应坐标的像素值相减得到的差值图像为瓷砖缺陷图像G；步骤4)局部方差测量算子：针对步骤3)中的得到的每幅瓷砖缺陷图像G的边缘像素点，计算该像素点与其周围像素点的局部方差，对得到的缺陷图像进行平滑和填充操作，从而取得最终的完整瓷砖缺陷图。 |
| 所属类别： | 发明专利 |
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