专利名称: |
一种旋转型低频漏磁无损探伤检测系统 |
摘要: |
本发明公开了一种旋转型低频漏磁无损探伤检测系统,由霍尔元件阵列、U型磁芯、激励线圈、信号处理器、电源模块、单片机、探测外壳、车轮、轮距调整机构、上位机组成。单片机输出低频交变信号给激励线圈,磁化U型磁芯,使其与待测构件形成磁回路,形成一个局部的磁真空泄露环境,让被检测导磁构件体内磁通在缺陷处泄漏到所创造的磁真空区域,形成最大化漏磁场并被置于该区域的霍尔元件阵列所感应,产生检测电信号经处理后,送入上位机处理,反应出损伤。该检测装置外部采用小车构造,且车轮距可调,可以实现在绕管道运动,实现旋转型漏磁检测。该发明具有可探测距离远、高灵敏度、可旋转检测,是对传统的基于漏磁检测原理的一次革新。 |
专利类型: |
发明专利 |
国家地区组织代码: |
浙江;33 |
申请人: |
中国计量大学 |
发明人: |
苏越洋;沈常宇;李光海 |
专利状态: |
有效 |
申请日期: |
2019-05-29T00:00:00+0800 |
发布日期: |
2019-07-30T00:00:00+0800 |
申请号: |
CN201910459838.X |
公开号: |
CN110068607A |
分类号: |
G01N27/83(2006.01);G;G01;G01N;G01N27 |
申请人地址: |
310018 浙江省杭州市下沙高教园区学源街258号 |
主权项: |
1.一种旋转型低频漏磁无损探伤检测系统,由霍尔元件阵列(1)、U型磁芯(2)、激励线圈(3)、信号处理器(4)、电源模块(5)、单片机(6)、探测外壳(7)、车轮(8)、轮距调整机构(9)、旋转螺钉(10)、上位机(11)组成;霍尔元件阵列(1)采用2*4布置差动处理的方法,两列霍尔元件背对背排列,电源模块(5)给整个系统供电,单片机(6)输出低频交变信号给激励线圈(3),磁化U型磁芯(2),使其与待测构件形成磁回路,形成一个局部的磁真空泄露环境,让被检测导磁构件体内磁通在缺陷处泄漏到所创造的磁真空区域,形成最大化漏磁场并被置于该区域的霍尔元件阵列(1)所感应,产生检测电信号经信号处理器(4)处理后通过数字式通信接口,送入上位机(11)通过MATLAB处理,形成相位图和幅值图,反应出损伤;检测系统装有车轮(8)可方便检测,旋转螺钉(10)控制轮距调整机构(9)实现车轮距可调,让检测装置可以在不同半径的管道上能旋转运动并保持霍尔元件阵列(1)到待测构件的距离不变,实现旋转型漏磁检测。 2.根据权利要求1所述的一种旋转型低频漏磁无损探伤检测系统,其特征在于:霍尔元件(1)与待测构件间隔1mm-2mm。 3.根据权利要求1所述的一种旋转型低频漏磁无损探伤检测系统,其特征在于:所述的U型磁芯(2)的材料为铁硅氧体,为U形,长为7cm,宽为4cm,外高为5.6cm,内高为3.6cm,两极间距为3cm。 4.根据权利要求1所述的一种旋转型低频漏磁无损探伤检测系统,其特征在于:小车车轮(8)通过旋转螺钉(10)控制底部轮距调整结构(9)可以实现在不同弧度待测构件上进行圆周运动,实现旋转检测。 |
所属类别: |
发明专利 |