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原文传递碳同位素分析装置和碳同位素分析方法

专利名称：	碳同位素分析装置和碳同位素分析方法
摘要：	本发明提供了一种碳同位素分析装置(1)，其具有：二氧化碳同位素生成装置(40)，其将碳同位素生成二氧化碳同位素；分光装置(10)，其设置有：包含一对镜子(12)的光学共振器(11)，和探测从光学共振器(11)透过的光的强度的光探测器(15)；和光生成装置(20)，其设置有：一个光源(23)、传导来自光源(23)的光的第一光纤(21)、从第一光纤(21)分支并且在第一光纤(21)的下游的合并点处合并的用于波长转换的第二光纤(22)、和光非线性光学晶体(25)，所述光非线性光学晶体(25)允许多个具有不同频率的光通过其中并且由此从频率的差异生成具有吸收二氧化碳同位素的波长的光。该碳同位素分析装置(1)还使得可以容易地且简单地进行14C分析。
专利类型：	发明专利
国家地区组织代码：	日本;JP
申请人：	积水医疗株式会社
发明人：	井口哲夫;富田英生;西泽典彦;大原利成;井手野晃
专利状态：	有效
申请日期：	2015-02-12T00:00:00+0800
发布日期：	2019-07-30T00:00:00+0800
申请号：	CN201811479803.4
公开号：	CN110068541A
代理机构：	中科专利商标代理有限责任公司
代理人：	陈平
分类号：	G01N21/3504(2014.01);G;G01;G01N;G01N21
申请人地址：	日本国东京都
主权项：	1.一种碳同位素分析装置，所述碳同位素分析装置包括：同位素碳的二氧化物生成器，所述同位素碳的二氧化物生成器用于从碳同位素生成同位素碳的二氧化物；分光计，所述分光计包括光学共振器和光探测器，所述光学共振器具有一对镜子，所述光探测器用于确定从所述光学共振器透过的光的强度；和光生成器，其中在通过冷却装置将所述同位素碳的二氧化物冷却至273K(0℃)以下的同时确定所述透过的光的强度。 2.根据权利要求1所述的碳同位素分析装置，其中所述碳同位素是放射性碳14C，且所述同位素碳的二氧化物是放射性二氧化碳14CO2。 3.根据权利要求1所述的碳同位素分析装置，其中所述光生成器包括光源，所述光源生成光频梳。 4.根据权利要求1所述的碳同位素分析装置，其中所述光生成器包括光纤激光器源。 5.根据权利要求1所述的碳同位素分析装置，其中所述光生成器包括非线性光学晶体，所述非线性光学晶体用于生成具有4.5μm带区的同位素碳的二氧化物的吸收波长的光。 6.根据权利要求1所述的碳同位素分析装置，其中所述同位素碳的二氧化物生成器利用总有机碳生成器由所述碳同位素生成所述同位素碳的二氧化物。 7.根据权利要求1所述的碳同位素分析装置，其中所述光生成器还包括用于将光从非线性光学晶体传导至所述光学共振器的光传导器。 8.根据权利要求1所述的碳同位素分析装置，其中所述分光计还包括冷却器，所述冷却器用于冷却所述光学共振器。 9.根据权利要求1所述的碳同位素分析装置，其中所述分光计还包括真空单元，所述真空单元容纳所述光学共振器。 10.根据权利要求1所述的碳同位素分析装置，其中所述分光计还包括振动吸收器。 11.根据权利要求1所述的碳同位素分析装置，其中所述分光计还包括衍射光栅，所述衍射光栅将透过的光分散成不同波长的光谱分量，并且所述光探测器包括子-光探测器a和子-光探测器b，所述子-光探测器a和子-光探测器b用于检测所述不同波长的光谱分量。 12.一种分析碳同位素的方法，所述方法包括：由碳同位素形成同位素碳的二氧化物；将所述同位素碳的二氧化物进料至具有一对镜子的光学共振器；从光源生成多个具有不同波长的光束，并且将所述光束传导通过光学晶体，以生成入射光；将所述入射光施加至所述同位素碳的二氧化物，并且确定通过所述入射光的共振生成的透过的光的强度；以及基于所述透过的光的强度计算所述碳同位素的浓度，其中在通过冷却装置将所述同位素碳的二氧化物冷却至273K(0℃)以下的同时确定所述透过的光的强度。 13.根据权利要求12所述的方法，其中所述碳同位素是放射性碳14C，且所述同位素碳的二氧化物是放射性二氧化碳14CO2。 14.根据权利要求12所述的方法，其中所述入射光是4.5μm带区的光。 15.根据权利要求12所述的方法，其中从所述光源生成光频梳。
所属类别：	发明专利