专利名称: |
测量气体绝缘封闭开关用O形密封圈压缩永久变形的方法 |
摘要: |
本发明公开了一种测量气体绝缘封闭开关用O形密封圈压缩永久变形的方法,包括以下步骤:(1)在O形密封圈上截取待测试样;(2)测量待测试样截面受压缩前的截面直径和受压缩恢复后的真实压缩方向截径,本发明所述的测量气体绝缘封闭开关用O形密封圈压缩永久变形的方法在测量过程中,对待测试样的真实压缩方向上的厚度值进行了测量,待测试样在受压恢复后的最小厚度值即为真实压缩方向截径,而现有技术只是测量O形密封圈的表观压缩方向截径,本发明所述方法得到的压缩永久变形准确性高,对O形密封圈的寿命预测具有重要意义。 |
专利类型: |
发明专利 |
国家地区组织代码: |
广东;44 |
申请人: |
华南理工大学 |
发明人: |
张智敏;郝艳捧;彭家豪;阳林;王国利;高超;杨芸 |
专利状态: |
有效 |
申请日期: |
2019-05-31T00:00:00+0800 |
发布日期: |
2019-07-30T00:00:00+0800 |
申请号: |
CN201910467929.8 |
公开号: |
CN110068503A |
代理机构: |
广州粤高专利商标代理有限公司 |
代理人: |
何淑珍;隆翔鹰 |
分类号: |
G01N3/08(2006.01);G;G01;G01N;G01N3 |
申请人地址: |
510640 广东省广州市天河区五山路381号 |
主权项: |
1.测量气体绝缘封闭开关用O形密封圈压缩永久变形的方法,其特征在于,包括以下步骤: (1)在O形密封圈上截取待测试样; (2)测量待测试样横截面受压缩前的截面直径d0; (3)对所述待测试样施加压缩和热老化处理; (4)测量待测试样受压缩恢复后的真实压缩方向截径dp1,所述真实压缩方向截径为受压缩恢复后的待测试样截面在受压缩方向上的厚度; 给定方向p,作一条直线l⊥p且l与待测试样截面只有一个交点,作另一条直线l′∥l,使l′与待测试样截面轮廓也只有1个交点,定义l与l′之间的距离dp为p方向截径;当dp的值最小时,所述方向p为待测试样的受压缩方向,dp1=dp,得O形密封圈的压缩永久变形 其中,Hs为测量待测试样截面直径的夹具中的限制器的高度。 2.根据权利要求1所述测量气体绝缘封闭开关用O形密封圈压缩永久变形的方法,其特征在于,用橡胶厚度计测量待测试样的截面直径和真实压缩方向截径。 3.根据权利要求2所述测量气体绝缘封闭开关用O形密封圈压缩永久变形的方法,其特征在于,步骤(4)测量待测试样的真实压缩方向截径dp1时的步骤包括:将压缩和热老化处理后的待测试样放置在橡胶厚度计的测试台上,施加压足,左右转动待测试样,以使待测试样在竖直方向上的厚度最薄,然后释放压足,至少2秒后读取橡胶厚度计上的数值,即为dp1。 4.根据权利要求2所述测量气体绝缘封闭开关用O形密封圈压缩永久变形的方法,其特征在于,步骤(2)测量待测试样的真实压缩方向截径dp时的步骤包括: (2.1)将待测试样放置在橡胶厚度计的测试台上,施加压足,左右转动待测试样,以使待测试样在竖直方向上的厚度最薄,然后释放压足,至少2秒后读取橡胶厚度计上的数值,即为dp1-1; (2.2)左右转动待测试样或者上下翻转待测试样,以变换待测试样在橡胶厚度计的测试台上的摆放方向,施加压足,左右转动待测试样,以使待测试样在竖直方向上的厚度最薄,然后释放压足,至少2秒后读取橡胶厚度计上的数值,即为dp1-2; (2.3)如此重复左右转动或上下翻转待测试样,变换待测试样在橡胶厚度计的测试台上的摆放方向N次,共得N个真实压缩方向截径的数值,dp1为所述N个真实压缩方向截径的数值的平均值,其中N为不小于2的自然数。 5.根据权利要求3所述测量气体绝缘封闭开关用O形密封圈压缩永久变形的方法,其特征在于,施加和释放压足M次,得M个真实压缩方向截径的数值,dp1为所述M个真实压缩方向截径的数值的平均值,其中M为不小于2的自然数;每次测量的时间间隔不少于3秒,以使待测试样恢复。 6.根据权利要求4所述测量气体绝缘封闭开关用O形密封圈压缩永久变形的方法,其特征在于,待测试样在橡胶厚度计的测试台上的每种摆放方向施加和释放压足M次,得M×N个真实压缩方向截径的数值,dp1为所述M×N个真实压缩方向截径的数值的平均值,其中M为不小于2的自然数;每次测量的时间间隔不少于3秒,以使待测试样恢复。 7.根据权利要求1至6任一项所述测量气体绝缘封闭开关用O形密封圈压缩永久变形的方法,其特征在于,步骤(1)中在O形密封圈上截取的待测试样的个数为X,其中X为不小于2的自然数。 8.根据权利要求1至6任一项所述测量气体绝缘封闭开关用O形密封圈压缩永久变形的方法,其特征在于,步骤(1)中在O形密封圈上截取的待测试样为弧形,弧形的弧长为10mm~70mm。 9.根据权利要求3或4所述测量气体绝缘封闭开关用O形密封圈压缩永久变形的方法,其特征在于,释放压足后,在3秒后读取橡胶厚度计上的数值。 10.根据权利要求7所述测量气体绝缘封闭开关用O形密封圈压缩永久变形的方法,其特征在于,截取的待测试样在所述O形密封圈上间隔的距离相等。 |
所属类别: |
发明专利 |