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原文传递 一种基于棱镜耦合仪的微纳材料折射率测量方法
专利名称: 一种基于棱镜耦合仪的微纳材料折射率测量方法
摘要: 一种基于棱镜耦合仪的微纳材料折射率测量方法,将待测微纳材料与溴代萘有机溶剂以小于30%的体积比例均匀混合形成稳定悬浊液,使用棱镜耦合仪分别测量稳定悬浊液和溴代萘有机溶剂的折射率,将测得的折射率分别代入麦克斯韦‑加内特模型计算,得到待测微纳材料的折射率。本发明可测量材料折射率范围比较大,所以只要待测微纳材料与溴代萘有机溶剂形成的稳定悬浊液以及溴代萘有机溶剂的折射率介于棱镜耦合仪测量范围内即可测量;达到的测量精度高,可以达到10‑4,测量结果明显直观,易于观察,因此测量折射率时具备测量精度高的优势;可测量的物质种类多,测量范围较大。
专利类型: 发明专利
国家地区组织代码: 天津;12
申请人: 天津大学
发明人: 陈峰;张培;许晴;张德龙
专利状态: 有效
申请日期: 2019-04-22T00:00:00+0800
发布日期: 2019-08-02T00:00:00+0800
申请号: CN201910325076.4
公开号: CN110082313A
代理机构: 天津市北洋有限责任专利代理事务所
代理人: 杜文茹
分类号: G01N21/41(2006.01);G;G01;G01N;G01N21
申请人地址: 300072 天津市南开区卫津路92号
主权项: 1.一种基于棱镜耦合仪的微纳材料折射率测量方法,其特征在于:将待测微纳材料与溴代萘有机溶剂以小于30%的体积比例均匀混合形成稳定悬浊液,使用棱镜耦合仪分别测量稳定悬浊液和溴代萘有机溶剂的折射率,将测得的折射率分别代入麦克斯韦-加内特模型计算,得到待测微纳材料的折射率。 2.根据权利要求1所述的一种基于棱镜耦合仪的微纳材料折射率测量方法,其特征在于,包括如下步骤: 1)将待测微纳材料表面附着油酸物质后与溴代萘有机溶剂以小于30%的体积比例均匀混合形成稳定悬浊液,使用棱镜耦合仪分别测量稳定悬浊液和溴代萘有机溶剂的折射率; 2)将测得的三种波长状态下的溴代萘有机溶剂的折射率和稳定悬浊液的折射率分别代入如下麦克斯韦-加内特模型,得到待测微纳材料的介电常数: 其中,εi是待测微纳材料的介电常数,εe是溴代萘有机溶剂的介电常数,εeff是稳定悬浊液的有效介电常数,f是待测微纳材料占稳定悬浊液的体积分数; 3)对待测微纳材料的介电常数εi开方,得到待测微纳材料的折射率。 3.根据权利要求2所述的一种基于棱镜耦合仪的微纳材料折射率测量方法,其特征在于,步骤1)所述的油酸物质是顺式十八碳-9-烯酸。 4.根据权利要求2所述的一种基于棱镜耦合仪的微纳材料折射率测量方法,其特征在于,步骤1)测量时是将稳定悬浊液和溴代萘有机溶剂分别置于硬质塑料上进行测量。 5.根据权利要求2所述的一种基于棱镜耦合仪的微纳材料折射率测量方法,其特征在于,步骤1)所述的使用棱镜耦合仪分别测量稳定悬浊液和溴代萘有机溶剂的折射率,是指分别测量稳定悬浊液和溴代萘有机溶剂在一种以上波长下的折射率。
所属类别: 发明专利
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