专利名称: |
一种试验用冲击试样V型缺口对中测量装置 |
摘要: |
本发明公开了一种试验用冲击试样V型缺口对中测量装置,包括尺身、定位卡脚、V型缺口定位块以及关于尺身中心线成对对称设置的制动螺钉、游标、尺框、主尺、活动卡脚、微动螺母和微动装置,所述定位卡脚设于尺身中心线位置正上方,所述V型缺口定位块设于尺身中心线位置正下方,所述定位卡脚和V型缺口定位块中心线与尺身中心线重合,两套主尺和游标的刻度线关于尺身中心线对称设置,且零刻度线靠近尺身中心线一侧,所述对中测量装置形成关于尺身中心线为轴的对称结构。本发明具有操作简便,能够精准定位缺口的对称面为测量距离的起点即零点,可同时测得缺口对称面与试样端面的距离,减少了常规测量过程中的无关变量,省时、省力。 |
专利类型: |
发明专利 |
国家地区组织代码: |
辽宁;21 |
申请人: |
中国科学院金属研究所 |
发明人: |
张宏阳;王景丽;蔡静;王健;张重远 |
专利状态: |
有效 |
申请日期: |
2019-05-15T00:00:00+0800 |
发布日期: |
2019-08-02T00:00:00+0800 |
申请号: |
CN201910403758.2 |
公开号: |
CN110082244A |
代理机构: |
沈阳晨创科技专利代理有限责任公司 |
代理人: |
张晨 |
分类号: |
G01N3/62(2006.01);G;G01;G01N;G01N3 |
申请人地址: |
110015 辽宁省沈阳市沈河区文化路72号 |
主权项: |
1.一种试验用冲击试样V型缺口对中测量装置,包括尺身(1)、制动螺钉(2)、游标(3)、尺框(4)、主尺(5)、活动卡脚(6)、微动螺母(9)和微动装置(10),其特征在于,所述制动螺钉(2)、游标(3)、尺框(4)、主尺(5)、活动卡脚(6)、微动螺母(9)和微动装置(10)均关于尺身(1)中心线成对对称设置;所述对中测量装置还包括定位卡脚(7)和V型缺口定位块(8),所述定位卡脚(7)设于尺身(1)中心线位置正上方,所述V型缺口定位块(8)设于尺身(1)中心线位置正下方,所述定位卡脚(7)和V型缺口定位块(8)中心线与尺身(1)中心线重合,两套主尺(5)和游标(3)的刻度线关于尺身(1)中心线对称设置,且零刻度线靠近尺身(1)中心线一侧,所述对中测量装置形成关于尺身(1)中心线为轴的对称结构。 2.按照权利要求1所述的一种试验用冲击试样V型缺口对中测量装置,其特征在于,所述定位卡脚(7)和V型缺口定位块(8)与尺身(1)一体成型。 3.按照权利要求2所述的一种试验用冲击试样V型缺口对中测量装置,其特征在于,所述活动卡脚(6)与游标(3)一体成型。 |
所属类别: |
发明专利 |