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原文传递测定微尘的分析仪

专利名称：	测定微尘的分析仪
摘要：	本申请涉及测定微尘的分析仪。测定微尘的光学分析仪具有：发出不同波长的三种发射光束的三个光源；将三种发射光束合并到共同光路上的装置；测量体积，载有微尘的气体可引入测量体积中且发射光在此入射到待测量的气体上并散射到微尘上，且在测量体积中界定中点，从该中点出发界定散射角，其中光轴在前向散射方向上界定0°散射角；检测未散射光的0°的光吸收装置；分别检测接近0°、7°和40°、41°和70°、71°和115°、116°和145°以及146°和180°之间的角度的散射光的第一、二、三、四、五和六检测器；存储检测的散射光强度的存储器；以及控制和评估单元，其控制光源使得这些检测器波长选择地检测散射光，并被构造成使得可从散射光强度确定微尘的粒度分布和微尘质量分数。
专利类型：	发明专利
国家地区组织代码：	德国;DE
申请人：	西克工程有限公司
发明人：	亚历山大·施拉迪茨;凯·克林德
专利状态：	有效
申请日期：	2018-12-28T00:00:00+0800
发布日期：	2019-08-06T00:00:00+0800
申请号：	CN201811628168.1
公开号：	CN110095477A
代理机构：	北京安信方达知识产权代理有限公司
代理人：	王红英;杨明钊
分类号：	G01N21/94(2006.01);G;G01;G01N;G01N21
申请人地址：	德国奥滕多夫奥克里拉
主权项：	1.一种用于测定微尘的光学分析仪(10)，具有： -三个光源(L1、L2、L3)，其用于发射不同波长的三种发射光束(S1、S2、S3)， -装置(22)，其用于将所述三种发射光束(S1、S2、S3)合并到共同的光路(24)上， -测量体积(25)，载有微尘的气体能够被引入到所述测量体积中，并且所述发射光(S1、S2、S3)在所述测量体积中入射到待测量的气体上并散射到微尘上，并且在所述测量体积中界定中点(29)，从所述中点出发界定散射角(α)，其中在前向散射方向上的光轴界定0°散射角， -0°的光吸收装置(30)，其检测未散射的光， -第一检测器(40)，其被布置成紧邻所述光吸收装置(30)尽可能接近0°，并检测在所述前向方向上的散射光， -第二检测器(42)，其以介于7°和40°之间的第二散射角布置， -第三检测器(44)，其以介于41°和70°之间的第三散射角布置， -第四检测器(46)，其以介于71°和115°之间的第四散射角布置， -第五检测器(48)，其以介于116°和145°之间的第五散射角布置， -第六检测器(50)，其以介于146°和180°之间的第六散射角布置，使得这些检测器检测各角度内的散射光， -控制和评估单元(60)，其控制所述光源(L1、L2、L3)，使得所述检测器(40、42、44、46、48、50)波长选择地检测散射光， -存储器(62)，其用于存储所检测的散射光强度， -并且，所述控制和评估单元(60)被构造成使得能够根据所述散射光强度确定微尘的粒度分布和微尘质量分数。 2.根据权利要求1所述的分析仪，其特征在于， -所述第一散射角位于0°和6°之间， -所述第二散射角位于23°和33°之间，特别是位于大约28°， -所述第三散射角位于56°和66°之间，特别是位于大约61°， -所述第四散射角位于91°和101°之间，特别是位于大约96°， -所述第五散射角位于125°和135°之间，特别是位于大约128°， -所述第六散射角位于145°和165°之间，特别是位于大约155°。 3.根据前述权利要求中任一项所述的分析仪，其特征在于，第七检测器被布置在介于166°和180°之间，特别是170°的第七散射角范围内。 4.根据前述权利要求中任一项所述的分析仪，其特征在于，发射光被线性偏振。 5.根据前述权利要求中任一项所述的分析仪，其特征在于，所述第一检测器被构造成CMOS线传感器。 6.根据前述权利要求中任一项所述的分析仪，其特征在于，每个检测器具有光学器件，所述光学器件检测来自+/-1°的散射角容差范围内的光，并且将其聚焦在所述检测器上。 7.根据前述权利要求中任一项所述的分析仪，其特征在于，用于光束合并的所述装置通过固定的反射镜来实现，或具有可枢转的抛物面反射镜，所述抛物面反射镜能够根据枢转角位置将所述三个光源中的每一个光源的发射光引导到光路上。 8.根据前述权利要求中任一项所述的分析仪，其特征在于，所述光源的波长位于紫外线、可见光和红外线范围内。 9.根据前述权利要求中任一项所述的分析仪，其特征在于，发射光束被加宽，并且在所述测量体积的区域中具有约4mm的直径。 10.根据前述权利要求中任一项所述的分析仪，其特征在于，放大的检测器信号借助具有已知粒度分布和已知光学特征的测试颗粒被校准到物理单位。
所属类别：	发明专利