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原文传递高选择性腐蚀传感器系统

专利名称：	高选择性腐蚀传感器系统
摘要：	提供了一种高选择性腐蚀传感器系统，其能够在短时间内高敏感度和高选择性地评估多种金属腐蚀环境。高选择性腐蚀传感器系统设有：传感器组，其包括选自包括传感器表面上的金属薄膜的材料各自不同的多个表面等离子共振传感器、传感器表面上的功能膜的材料各自不同的多个表面等离子共振传感器、和分别使用不同的金属微小颗粒的多个局部表面等离子共振传感器的组中的至少一个传感器；投光器，其朝着各传感器投射光；检测器，其检测从各传感器发射的光束作为与光束强度对应的信号强度；数据库，其积存关于被测量金属的腐蚀的信息；以及分析器，其通过基于由检测器检测的多个信号强度和数据库中积存的信息进行模式识别而分析被测量金属的腐蚀的程度。
专利类型：	发明专利
国家地区组织代码：	日本;JP
申请人：	矢崎总业株式会社
发明人：	小迫照和
专利状态：	有效
申请日期：	2017-12-28T00:00:00+0800
发布日期：	2019-08-06T00:00:00+0800
申请号：	CN201780079198.9
公开号：	CN110100171A
代理机构：	北京奉思知识产权代理有限公司
代理人：	邹轶鲛;石红艳
分类号：	G01N21/41(2006.01);G;G01;G01N;G01N21
申请人地址：	日本东京
主权项：	1.一种高选择性腐蚀传感器系统，包括：传感器组，该传感器组包括选自表面等离子共振传感器和局部表面等离子共振传感器中的至少两个传感器，所述至少两个传感器相对于腐蚀环境具有不同的耐腐蚀性和不同的腐蚀倾向；投光器，该投光器被构造为朝着所述传感器组中的所述传感器投射光；检测器，该检测器被构造为检测来自所述传感器组中的所述传感器的光束作为信号强度，该信号强度对应于所述光束的强度；数据库，该数据库中积存了关于被测量金属的腐蚀的信息；和分析器，该分析器被构造为通过基于由所述检测器检测的所述信号强度和积存在所述数据库中的信息进行模式识别，而分析所述被测量金属的腐蚀的程度。 2.根据权利要求1所述的高选择性腐蚀传感器系统，其中，所述传感器组包括选自由如下构成的组的至少一个传感器：(1)传感器表面具有金属薄膜的表面等离子共振传感器、(2)传感器表面具有由不同材料制成的金属薄膜的表面等离子共振传感器、(3)传感器表面具有功能膜的表面等离子共振传感器、(4)传感器表面具有由不同材料制成的功能膜的表面等离子共振传感器、(5)传感器部具有金属微小颗粒的局部表面等离子共振传感器、(6)传感器部具有不同的金属微小颗粒的局部表面等离子共振传感器、(7)传感器部具有表面设置有功能膜的金属微小颗粒的局部表面等离子共振传感器和(8)传感器部具有表面设置有由不同材料制成的功能膜的金属微小颗粒的局部等离子共振传感器，所述传感器组不是仅包括选自由(1)、(3)、(5)和(7)构成的组中的一个传感器的传感器组。 3.根据权利要求2所述的高选择性腐蚀传感器系统，其中，(1)或(2)的表面等离子共振传感器包括端面上形成有所述金属薄膜的光纤或者部分地具有如下区域的光纤：在所述区域中，去除所述光纤的包层，且所述光纤的芯部露出，并且所述金属薄膜形成在所述区域上。 4.根据权利要求2所述的高选择性腐蚀传感器系统，其中，(5)或(6)的局部表面等离子共振传感器包括基板，大量的金属微小颗粒布置在该基板上。 5.根据权利要求4所述的高选择性腐蚀传感器系统，其中，所述大量的金属微小颗粒中的各个金属微小颗粒是由金属薄膜覆盖的介电球。 6.根据权利要求2所述的高选择性腐蚀传感器系统，其中，(5)或(6)的局部表面等离子共振传感器包括端面上布置有大量的金属微小颗粒的光纤或者部分地具有如下区域的光纤：在所述区域中，去除所述光纤的包层且所述光纤的芯部露出，并且大量的金属微小颗粒布置在所述区域上。 7.根据权利要求6所述的高选择性腐蚀传感器系统，其中，所述大量的金属微小颗粒中的各个金属微小颗粒是由金属薄膜覆盖的介电球。 8.根据权利要求1至7的任意一项所述的高选择性腐蚀传感器系统，其中，所述传感器组包括传感器表面具有是金膜的金属薄膜的表面等离子共振传感器或传感器表面具有形成有保护膜的金属薄膜的表面等离子共振传感器作为基准传感器。
所属类别：	发明专利