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原文传递储层不可及孔隙体积确定方法及装置

专利名称：	储层不可及孔隙体积确定方法及装置
摘要：	本发明提供一种储层不可及孔隙体积确定方法及装置，其中，该方法包括以下步骤：获得测试储层的所有孔隙孔径数据，将所有孔隙孔径数据按照从小到大顺序进行排列；获得聚合物的所有分子团粒径数据，将所有分子团粒径数据按照从小到大顺序进行排列；对排序后的所有孔隙孔径数据和排序后的所有分子团粒径数据进行分析，根据不同的分析结果，采用不同的计算方法计算测试储层的不可及孔隙体积IPV。该方案根据聚合物分子团的粒径分布和储层孔隙孔径分布数据直接计算出不可及孔隙体积IPV，就无需通过室内驱替实验进行测定，从而缩短测试时间，节约测试成本，提高测试精度。
专利类型：	发明专利
国家地区组织代码：	北京;11
申请人：	中国石油大学(北京)
发明人：	赵传峰;张鑫;曹博文;王冰飞
专利状态：	有效
申请日期：	2019-05-14T00:00:00+0800
发布日期：	2019-08-06T00:00:00+0800
申请号：	CN201910397225.8
公开号：	CN110095399A
代理机构：	北京三友知识产权代理有限公司
代理人：	王天尧;任默闻
分类号：	G01N15/08(2006.01);G;G01;G01N;G01N15
申请人地址：	102249 北京市昌平区府学路18号
主权项：	1.一种储层不可及孔隙体积确定方法，其特征在于，包括：获得测试储层的所有孔隙孔径数据，将所有孔隙孔径数据按照从小到大顺序进行排列；获得聚合物的所有分子团粒径数据，将所有分子团粒径数据按照从小到大顺序进行排列；对排序后的所有孔隙孔径数据和排序后的所有分子团粒径数据进行分析：当分析得到排序后的所有孔隙孔径数据和排序后的所有分子团粒径数据均是离散的，采用如下方式计算不可及孔隙体积IPV：计算每一个孔隙孔径数据对应的IPV值概率分布律；根据每一个孔隙孔径对应的分子团粒径临界值以及所有分子团粒径数据，计算每一个孔隙孔径数据点对应的IPV值；根据每一个孔隙孔径数据对应的IPV值概率分布律、每一个孔隙孔径数据点对应的IPV值，计算测试储层的不可及孔隙体积IPV；当分析得到孔隙孔径的区间和分布频率以及分子团粒径的区间和分布频率时，采用如下方式计算不可及孔隙体积IPV：根据每一个孔隙孔径区间的分布频率，计算每一个孔隙孔径区间对应的IPV值概率分布律；根据每一个孔隙孔径区间对应的分子团粒径区间临界值以及所有分子团粒径区间的分布频率，计算每一个孔隙孔径区间对应的IPV值；根据每一个孔隙孔径区间对应的IPV值概率分布律、每一个孔隙孔径区间对应的IPV值，计算测试储层的不可及孔隙体积IPV；当分析得到孔隙孔径的分布概率密度函数以及分子团粒径的分布概率密度函数时，采用如下方式计算不可及孔隙体积IPV：根据孔隙孔径的分布概率密度函数，计算任一孔隙孔径对应的IPV值概率密度函数；根据任一孔隙孔径对应的分子团粒径临界值以及分子团粒径的分布概率密度函数，计算任一孔隙孔径对应的IPV值；根据任一孔隙孔径对应的IPV值概率密度函数、任一孔隙孔径对应的IPV值，计算测试储层的不可及孔隙体积IPV。 2.如权利要求1所述的储层不可及孔隙体积确定方法，其特征在于，当分析得到排序后的所有孔隙孔径数据和排序后的所有分子团粒径数据均是离散的，采用如下公式计算不可及孔隙体积IPV：其中，N为孔隙孔径数据的个数，i＝1,2,…,N，a＝1,2,…,N；xi为第i个孔隙孔径数据；xa为第a个孔隙孔径数据；φi为第i个孔隙孔径数据对应的IPV值概率分布律；M为分子团粒径数据的个数；Pi为第i个孔隙孔径数据点对应的IPV值；Ki为第i个孔径数据点对应的粒径临界值在所有粒径数据点中的序号；IPV为测试储层的不可及孔隙体积IPV。 3.如权利要求1所述的储层不可及孔隙体积确定方法，其特征在于，当分析得到孔隙孔径的区间和分布频率以及分子团粒径的区间和分布频率时，采用如下公式计算不可及孔隙体积IPV：其中，N为孔隙孔径区间的个数，i＝1,2,…,N，a＝1,2,…,N；xi为第i个孔隙孔径区间的均值数据；xa为第a个孔隙孔径数据；φi为第i个孔隙孔径区间对应的IPV值概率分布律；f(xi)为第i个孔隙孔径区间的分布频率；M为分子团粒径区间的个数；Pi为第i个孔隙孔径区间对应的IPV值；Ki为第i个孔径区间对应的粒径临界值在所有粒径区间中的序号；yj为第j个分子团粒径区间的均值数据；g(yj)为第j个分子团粒径区间的分布频率；IPV为测试储层的不可及孔隙体积IPV。 4.如权利要求1所述的储层不可及孔隙体积确定方法，其特征在于，当分析得到孔隙孔径的分布概率密度函数以及分子团粒径的分布概率密度函数时，采用如下公式计算不可及孔隙体积IPV：其中，x为孔隙孔径数据，为连续型随机变量；φ(x)为任一孔隙孔径IPV值概率密度函数；[xmin，xmax]为孔隙孔径的范围；F(x)为孔隙孔径在范围[xmin，xmax]内的概率密度函数；P(x)为孔径为x的孔隙的IPV值；Ω(x)为孔径为x的孔隙对应的分子团粒径临界值；G(y)为分子团粒径在范围[ymin，ymax]内的概率密度函数；y为分子团粒径数据，为连续型随机变量；IPV为测试储层的不可及孔隙体积IPV。 5.一种储层不可及孔隙体积确定装置，其特征在于，包括：孔隙孔径数据获得模块，用于获得测试储层的所有孔隙孔径数据，将所有孔隙孔径数据按照从小到大顺序进行排列；分子团粒径数据获得模块，用于获得聚合物的所有分子团粒径数据，将所有分子团粒径数据按照从小到大顺序进行排列；分析模块，用于对排序后的所有孔隙孔径数据和排序后的所有分子团粒径数据进行分析；不可及孔隙体积IPV计算模块用于：当分析得到排序后的所有孔隙孔径数据和排序后的所有分子团粒径数据均是离散的，采用如下方式计算不可及孔隙体积IPV：计算每一个孔隙孔径数据对应的IPV值概率分布律；根据每一个孔隙孔径对应的分子团粒径临界值以及所有分子团粒径数据，计算每一个孔隙孔径数据点对应的IPV值；根据每一个孔隙孔径数据对应的IPV值概率分布律、每一个孔隙孔径数据点对应的IPV值，计算测试储层的不可及孔隙体积IPV；当分析得到孔隙孔径的区间和分布频率以及分子团粒径的区间和分布频率时，采用如下方式计算不可及孔隙体积IPV：根据每一个孔隙孔径区间的分布频率，计算每一个孔隙孔径区间对应的IPV值概率分布律；根据每一个孔隙孔径区间对应的分子团粒径区间临界值以及所有分子团粒径区间的分布频率，计算每一个孔隙孔径区间对应的IPV值；根据每一个孔隙孔径区间对应的IPV值概率分布律、每一个孔隙孔径区间对应的IPV值，计算测试储层的不可及孔隙体积IPV；当分析得到孔隙孔径的分布概率密度函数以及分子团粒径的分布概率密度函数时，采用如下方式计算不可及孔隙体积IPV：根据孔隙孔径的分布概率密度函数，计算任一孔隙孔径对应的IPV值概率密度函数；根据任一孔隙孔径对应的分子团粒径临界值以及分子团粒径的分布概率密度函数，计算任一孔隙孔径对应的IPV值；根据任一孔隙孔径对应的IPV值概率密度函数、任一孔隙孔径对应的IPV值，计算测试储层的不可及孔隙体积IPV。 6.如权利要求5所述的储层不可及孔隙体积确定装置，其特征在于，所述不可及孔隙体积IPV计算模块具体用于：当分析得到排序后的所有孔隙孔径数据和排序后的所有分子团粒径数据均是离散的，采用如下公式计算不可及孔隙体积IPV：其中，N为孔隙孔径数据的个数,i＝1,2,…,N，a＝1,2,…,N；xi为第i个孔隙孔径数据；xa为第a个孔隙孔径数据；φi为第i个孔隙孔径数据对应的IPV值概率分布律；M为分子团粒径数据的个数；Pi为第i个孔隙孔径数据点对应的IPV值；Ki为第i个孔径数据点对应的粒径临界值在所有粒径数据点中的序号；IPV为测试储层的不可及孔隙体积IPV。 7.如权利要求5所述的储层不可及孔隙体积确定装置，其特征在于，所述不可及孔隙体积IPV计算模块具体用于：当分析得到孔隙孔径的区间和分布频率以及分子团粒径的区间和分布频率时，采用如下公式计算不可及孔隙体积IPV：其中，N为孔隙孔径区间的个数,i＝1,2,…,N，a＝1,2,…,N；xi为第i个孔隙孔径区间的均值数据；xa为第a个孔隙孔径数据；φi为第i个孔隙孔径区间对应的IPV值概率分布律；f(xi)为第i个孔隙孔径区间的分布频率；M为分子团粒径区间的个数；Pi为第i个孔隙孔径区间对应的IPV值；Ki为第i个孔径区间对应的粒径临界值在所有粒径区间中的序号；yj为第j个分子团粒径区间的均值数据；g(yj)为第j个分子团粒径区间的分布频率；IPV为测试储层的不可及孔隙体积IPV。 8.如权利要求5所述的储层不可及孔隙体积确定装置，其特征在于，所述不可及孔隙体积IPV计算模块具体用于：当分析得到孔隙孔径的分布概率密度函数以及分子团粒径的分布概率密度函数时，采用如下公式计算不可及孔隙体积IPV：其中，x为孔隙孔径数据，为连续型随机变量；φ(x)为任一孔隙孔径IPV值概率密度函数；[xmin，xmax]为孔隙孔径的范围；F(x)为孔隙孔径在范围[xmin，xmax]内的概率密度函数；P(x)为孔径为x的孔隙的IPV值；Ω(x)为孔径为x的孔隙对应的分子团粒径临界值；G(y)为分子团粒径在范围[ymin，ymax]内的概率密度函数；y为分子团粒径数据，为连续型随机变量；IPV为测试储层的不可及孔隙体积IPV。 9.一种计算机设备，包括存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序，其特征在于，所述处理器执行所述计算机程序时实现权利要求1至4任一所述方法。 10.一种计算机可读存储介质，其特征在于，所述计算机可读存储介质存储有执行权利要求1至4任一所述方法的计算机程序。
所属类别：	发明专利