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原文传递 多次反射测量室
专利名称: 多次反射测量室
摘要: 本实用新型涉及光学检测技术领域,且公开了多次反射测量室,包括氙灯光源,所述氙灯光源的右侧固定连接有测量室,所述测量室的内部远离氙灯光源的一侧活动连接有第一反射模块,所述第一反射模块的顶部螺纹连接有第一调节螺钉、第二调节螺钉和第三调节螺钉。该多次反射测量室,通过氙灯光源发出光线,射到测量室里经过第一反射模块再到第二反射模块,最终到接收端接头处,使用者可以根据测量的结果调整光线的照射位置,从而不会影响光线射出测量室,从而保证了同等能量的同时,增长了光路,进而提高紫外光吸光度,检测的下限更加的低,利用紫外差分吸收光谱得出测量室内气体的浓度,检测的效率高,方便使用者的使用。
专利类型: 实用新型
国家地区组织代码: 浙江;33
申请人: 杭州中灵科技有限公司
发明人: 施林辉;李玲
专利状态: 有效
申请日期: 2018-11-13T00:00:00+0800
发布日期: 2019-08-06T00:00:00+0800
申请号: CN201821863888.1
公开号: CN209215211U
代理机构: 上海精晟知识产权代理有限公司
代理人: 冯子玲
分类号: G01N21/33(2006.01);G;G01;G01N;G01N21
申请人地址: 310000 浙江省杭州市滨江区西兴街道信庭路99号2号楼201室
主权项: 1.多次反射测量室,包括氙灯光源(1),其特征在于:所述氙灯光源(1)的右侧固定连接有测量室(2),所述测量室(2)的内部远离氙灯光源(1)的一侧活动连接有第一反射模块(3),所述第一反射模块(3)的顶部螺纹连接有第一调节螺钉(4)、第二调节螺钉(5)和第三调节螺钉(6),所述第一反射模块(3)接近氙灯光源(1)的一侧固定连接有反射镜(7),所述测量室(2)的内部接近氙灯光源(1)的一侧活动连接有第二反射模块(8),所述第二反射模块(8)的顶部螺纹连接有第四调节螺钉(9)、第五调节螺钉(10)和第六调节螺钉(11),所述测量室(2)的右侧固定连接有接收端接头(12)。 2.根据权利要求1所述的多次反射测量室,其特征在于:所述氙灯光源(1)的背面固定连接有电源接头,氙灯光源(1)与测量室(2)的连接处开设有透光口,透光口贯穿测量室(2)的侧壁,透光口内固定连接有高透玻璃。 3.根据权利要求1所述的多次反射测量室,其特征在于:所述测量室(2)为长方体,测量室(2)的内部开设有反射凹槽,测量室(2)的顶部固定连接有与测量室(2)相匹配的盖板,测量室(2)的侧面固定连接有进气管和出气管。 4.根据权利要求1所述的多次反射测量室,其特征在于:所述第一反射模块(3)和第二反射模块(8)远离测量室(2)侧壁的一侧设置有限位块,限位块固定连接在测量室(2)的底部。 5.根据权利要求1所述的多次反射测量室,其特征在于:所述第一调节螺钉(4)、第二调节螺钉(5)和第三调节螺钉(6)呈等腰三角形分布在第一反射模块(3)的顶部,所述第四调节螺钉(9)、第五调节螺钉(10)和第六调节螺钉(11)呈等腰三角形分布在第二反射模块(8)的顶部。 6.根据权利要求1所述的多次反射测量室,其特征在于:所述第二调节螺钉(5)和第五调节螺钉(10)分别位于第一反射模块(3)和第二反射模块(8)的中部。 7.根据权利要求1所述的多次反射测量室,其特征在于:所述第二反射模块(8)接近第一反射模块(3)的一侧固定连接有反射镜(7),所述第一反射模块(3)和第二反射模块(8)的水平位置相互错开。
所属类别: 实用新型
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