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原文传递一种折反式激光粒度仪

专利名称：	一种折反式激光粒度仪
摘要：	一种折反式激光粒度仪，用于颗粒粒度分布测量。由激光器1发出的光经过扩束准直后形成平行光，照射在颗粒样品2区域，颗粒对光发生散射。颗粒的散射光经过透镜3后到达半透半反镜4，半透半反镜4与光路的光轴成45°摆放。在半透半反镜4后面且位于透镜3的焦平面上放置光电探测器阵列5，用于接收颗粒的散射光；在与光轴垂直的方向上设置透镜6，在透镜3和透镜6的组合焦平面上放置光电探测器阵列7，经半透半反镜4反射和透镜6透射后的颗粒散射信号由光电探测器阵列7接收。由光电探测器阵列5、7接收的颗粒散射信号被采集后，经计算机处理得到颗粒散射的角分布信号，从而得到颗粒粒度分布。
专利类型：	发明专利
国家地区组织代码：	天津;12
申请人：	河北工业大学
发明人：	魏永杰;葛婷婷;张中岐
专利状态：	有效
申请日期：	2019-06-05T00:00:00+0800
发布日期：	2019-08-13T00:00:00+0800
申请号：	CN201910483659.X
公开号：	CN110118707A
分类号：	G01N15/02(2006.01);G;G01;G01N;G01N15
申请人地址：	300401 天津市北辰区双口镇西平道5340号
主权项：	1.一种折反式激光粒度仪，其特征在涉及的硬件包括激光器1、颗粒样品2、透镜3、半透半反镜4、光电探测器阵列5、透镜6、光电探测器阵列7。具体测量过程如下：由激光器1发出的光经过扩束准直后形成平行光，照射在颗粒样品2，颗粒对光发生散射。散射光经过透镜3后分成两种，其中一路经半透半反镜4透射，到达光电探测器阵列5，形成散射角分布；另一路由半透半反镜4反射后经过透镜6，在光电探测器阵列7上形成角分布。将光电探测器阵列5和光电探测器阵列7的散射角分布信号经信号采集和计算机处理后计算得到颗粒粒度分布。 2.根据权利要求1所述的折反式激光粒度仪，其特征在于在光路中，将半透半反镜放置在透镜3后，对散射光信号进行分束处理。 3.根据权利要求1所述的折反式激光粒度仪，其特征在于采用一个激光器1作为光源，颗粒散射信号经透镜3透射后分成两路，其中一路经半透半反镜4透射后，由光电探测器阵列5接收；另一路由半透半反镜4反射后经透镜6透射，由光电探测器阵列7接收，从而扩大颗粒粒度分布的测量范围。
所属类别：	发明专利