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利用光学照度计无损快速鉴定全粉质、蜡质玉米种质的方法
| 专利名称： | 利用光学照度计无损快速鉴定全粉质、蜡质玉米种质的方法 |
| 摘要： | 一种利用光学照度计无损快速鉴定全粉质、蜡质玉米种质的方法，属于玉米种质的鉴定方法技术领域，所述的方法是将种子胚乳朝上放置于照度计的光学测定点上，采用微型固定白光源，从上方紧贴果皮照射种子胚乳，记录照度计上光强读数，根据光源透过种子胚乳的光强强度判断种子是否为全粉质种子，如果透过种子胚乳的光强强度小于5lux，则该种子为全粉质糯玉米，如果透过种子胚乳的光强强度大于100lux，则该种子为腊质糯玉米。该方法根据不同结构淀粉的光学特性鉴定全粉质、蜡质糯玉米种质，该方法可辅助加快全粉质、蜡质糯玉米自交系的培育与鉴定，以及全粉质、蜡质糯玉米新品种的选育，具有很好的应用前景。 |
| 专利类型： | 发明专利 |
| 国家地区组织代码： | 安徽;34 |
| 申请人： | 安徽省农业科学院烟草研究所 |
| 发明人： | 李廷春;董庆;杨华应;刘桂虎;周应兵;陈洪俭;李成 |
| 专利状态： | 有效 |
| 申请日期： | 2019-05-27T00:00:00+0800 |
| 发布日期： | 2019-08-13T00:00:00+0800 |
| 申请号： | CN201910445149.3 |
| 公开号： | CN110118731A |
| 代理机构： | 合肥中谷知识产权代理事务所(普通合伙) |
| 代理人： | 洪玲 |
| 分类号： | G01N21/17(2006.01);G;G01;G01N;G01N21 |
| 申请人地址： | 230031 安徽省合肥市庐阳区农科南路40号 |
| 主权项： | 1.一种利用光学照度计无损快速鉴定全粉质、蜡质玉米种质的方法，其特征在于，该方法利用光学照度计测定种子胚乳透光强度，根据光学照度计的光源透过种子胚乳的光强强度来判断种子是全粉质或蜡质玉米种子。 2.根据权利要求1所述的一种利用光学照度计无损快速鉴定全粉质、蜡质玉米种质的方法，其特征在于，包括以下步骤： 步骤1.将种子胚乳朝上放置于光学照度计的光学测定点上，采用微型固定白光源，从上方紧贴种皮照射种子胚乳，记录照度计上光强读数； 步骤2.根据光强读数判断种子种质类型，若透过种子胚乳的光强强度小于全粉质糯玉米光强度阈值，则为全粉质糯玉米，若透过种子胚乳的光强强度大于蜡质糯玉米光强度阈值，则为蜡质糯玉米。 3.根据权利要求1所述的一种利用光学照度计无损快速鉴定全粉质、蜡质玉米种质的方法，其特征在于，所述微型固定白光源的光照强度为30000-100000lux。 4.根据权利要求1所述的一种利用光学照度计无损快速鉴定全粉质、蜡质玉米种质的方法，其特征在于，所述全粉质糯玉米光强度阈值为5lux，蜡质糯玉米光强度阈值为100lux。 |
| 所属类别： | 发明专利 |
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