专利名称: |
一种质构仪 |
摘要: |
本实用新型涉及检测设备技术领域,具体来说是一种质构仪,定位基台中部设有定位部,定位基台沿定位部底部的周向向定位部内侧设有延伸段,定位部用于与定位组件相配合,定位组件包括第一定位板和第二定位板,第二定位板上设置有若干调节螺栓,第一定位板对应于所述的调节螺栓的数量及位置相应设有若干螺纹孔,第一定位板和第二定位板之间通过调节螺栓连接,并能通过调节螺栓调节第一定位板和第二定位板之间的间距,所述的第二定位板中部设有通孔。本实用新型同现有技术相比优点在于:通过调节螺栓的设置,便于对定位组件的高度位置进行调节,能够适应不同形状大小的较大类待检测物,对探头的工作端端面进行改进,以更好的测得待检测物的物性参数。 |
专利类型: |
实用新型 |
国家地区组织代码: |
上海;31 |
申请人: |
百氏得森(上海)精细化工有限公司 |
发明人: |
王岩;牟立娟;郭小明;杨根敏 |
专利状态: |
有效 |
申请日期: |
2018-11-23T00:00:00+0800 |
发布日期: |
2019-08-13T00:00:00+0800 |
申请号: |
CN201821936941.6 |
公开号: |
CN209247744U |
代理机构: |
上海三方专利事务所(普通合伙) |
代理人: |
吴玮 |
分类号: |
G01N33/02(2006.01);G;G01;G01N;G01N33 |
申请人地址: |
200336 上海市长宁区天山路641号1号楼(19幢)510室 |
主权项: |
1.一种质构仪,包括底座、探头及探头驱动机构,其特征在于所述的底座包括定位基台,所述的定位基台中部设有定位部,所述的定位基台沿定位部底部的周向向定位部内侧设有延伸段,所述的定位部用于与定位组件相配合,所述的定位组件包括第一定位板和第二定位板,所述的第二定位板上设置有若干调节螺栓,所述的第一定位板对应于所述的调节螺栓的数量及位置相应设有若干螺纹孔,第一定位板和第二定位板之间通过调节螺栓连接,并能通过调节螺栓调节第一定位板和第二定位板之间的间距,所述的第二定位板中部设有通孔。 2.如权利要求1所述的质构仪,其特征在于所述的探头的工作端的端面呈锯齿状。 3.如权利要求1所述的质构仪,其特征在于所述的探头包括连接部和工作部,所述的连接部底端设有外螺纹,所述的连接部中部设有内螺纹孔,连接部和工作部之间通过螺纹配合实现连接。 4.如权利要求1所述的质构仪,其特征在于所述的定位基台底部两侧平行设有支撑部。 5.如权利要求1所述的质构仪,其特征在于所述的定位部为定位凹槽或定位通孔。 6.如权利要求1所述的质构仪,其特征在于所述的定位组件的第一定位板的形状大小与所述的定位部的形状大小相适应,所述的定位部至少一侧设有凹槽以便取出定位组件。 7.如权利要求1所述的质构仪,其特征在于所述的第二定位板一侧设有螺纹孔,第二定位板的另一侧上部设有对称设有两处延伸段,延伸段处相对设有用于供连接杆穿过的通孔,所述的连接杆两端位于第二定位板的外侧且设有用于连接调节螺栓的螺栓孔。 8.如权利要求1所述的质构仪,其特征在于所述的探头的工作端的端面均匀布满三棱锥形的凸出结构。 |
所属类别: |
实用新型 |