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原文传递一种微试样研磨装置

专利名称：	一种微试样研磨装置
摘要：	本发明属于试验设备技术领域，涉及一种研磨装置，尤其涉及一种微试样研磨装置，包括驱动部分、支承部分和研磨部分；可调速的直流减速电机作为驱动，依靠联轴器带动整个装置旋转；底盘承担整个研磨装置的重量，且底盘上设有支脚，通过调节支脚的高度来保证整个装置的水平度；支承台和轴承承担减速电机以上所有物体的重量，保证减速电机正常运行；螺杆连接底盘和支承台，保证研磨部分的水平度，并保证整个研磨装置的可移动性；第一轴套、第二轴套保证两个盘状油石的对中性；铁盘和盘状油石的自重提供压力压紧微试样；不锈钢垫片卡住微试样，防止微型试样沿径向移动，通过更换不同样式的不锈钢垫片，研磨不同的微试样。
专利类型：	发明专利
国家地区组织代码：	上海;31
申请人：	华东理工大学
发明人：	王杜伟;关凯书;章骁程
专利状态：	有效
申请日期：	2019-06-12T00:00:00+0800
发布日期：	2019-08-13T00:00:00+0800
申请号：	CN201910504662.5
公开号：	CN110118683A
代理机构：	上海顺华专利代理有限责任公司
代理人：	顾兰芳
分类号：	G01N1/28(2006.01);G;G01;G01N;G01N1
申请人地址：	200237 上海市徐汇区梅陇路130号
主权项：	1.一种微试样研磨装置，其特征在于包括驱动部分、支承部分和研磨部分；可调速的直流减速电机(1)作为驱动，依靠联轴器(4)带动整个装置旋转；底盘(3)承担整个研磨装置的重量，且底盘(3)上设有支脚，通过调节支脚的高度来保证整个装置的水平度；支承台(6)和轴承(7)承担减速电机以上所有物体的重量，保证减速电机正常运行；螺杆(2)连接底盘(3)和支承台(6)，保证研磨部分的水平度，并保证整个研磨装置的可移动性；第一轴套(5)、第二轴套(11)保证两个盘状油石(9)的对中性；铁盘(10)和盘状油石(9)的自重提供压力压紧微试样；不锈钢垫片(8)卡住微试样，防止微型试样沿径向移动，通过更换不同样式的不锈钢垫片，研磨不同的微试样。
所属类别：	发明专利