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原文传递一种二次谐波和双光子荧光同时原位测量装置

专利名称：	一种二次谐波和双光子荧光同时原位测量装置
摘要：	本发明提供了一种二次谐波和双光子荧光同时原位测量装置，包括激光器、样品池、光学元件、分束器和信号采集单元，光学元件包括带通滤光片和窄带滤光片，激光器与样品池相连，样品池与分束器相连，分束器分别与带通滤光片、窄带滤光片相连，信号采集单元分别与带通滤光片、窄带滤光片相连，样品池用于放置样品，由激光器输出的信号光，聚焦在样品上，经分束器分光后，分别进行二次谐波和双光子荧光的同时原位测量。本发明的有益效果是：本发明对分子在膜表面吸附与跨膜传输动力学行为探测，具有良好的灵敏性、精确性和时间分辨能力等优良性能，为从分子层次理解膜表面吸附传输的机理提供了一种简便、灵敏的方法。
专利类型：	发明专利
国家地区组织代码：	广东;44
申请人：	哈尔滨工业大学(深圳)
发明人：	陈顺利;李成章;干为;袁群惠
专利状态：	有效
申请日期：	2019-05-16T00:00:00+0800
发布日期：	2019-08-16T00:00:00+0800
申请号：	CN201910404893.9
公开号：	CN110132919A
代理机构：	深圳市添源知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人：	黎健任
分类号：	G01N21/64(2006.01);G;G01;G01N;G01N21
申请人地址：	518000 广东省深圳市南山区桃源街道深圳大学城哈尔滨工业大学校区
主权项：	1.一种二次谐波和双光子荧光同时原位测量装置，其特征在于：包括激光器(101)、样品池(106)、光学元件、分束器(109)和信号采集单元，所述光学元件包括带通滤光片(111)和窄带滤光片(112)，所述激光器(101)与所述样品池(106)相连，所述样品池(106)与所述分束器(109)相连，所述分束器(109)分别与所述带通滤光片(111)、所述窄带滤光片(112)相连，所述信号采集单元分别与所述带通滤光片(111)、所述窄带滤光片(112)相连，所述样品池(106)用于放置样品，由所述激光器(101)输出的信号光，聚焦在所述样品上，经分束器(109)分光后，分别进行二次谐波和双光子荧光的同时原位测量。 2.根据权利要求1所述的二次谐波和双光子荧光同时原位测量装置，其特征在于：所述信号采集单元包括单色仪、光电倍增管、稳压电源(118)、前置放大器(117)、单光子计数器(119)，所述单色仪一端与所述光电倍增管相连，所述单色仪另一端与所述光学元件相连，所述前置放大器(117)一端与所述单光子计数器(119)相连，所述前置放大器(117)另一端与所述光电倍增管相连，所述稳压电源(118)与所述光电倍增管相连。 3.根据权利要求2所述的二次谐波和双光子荧光同时原位测量装置，其特征在于：所述单色仪包括第一单色仪(113)、第二单色仪(114)，所述光电倍增管包括第一光电倍增管(115)、第二光电倍增管(116)，所述第一单色仪(113)一端与所述带通滤光片(111)相连，所述第一单色仪(113)另一端与所述第一光电倍增管(115)相连，所述第二单色仪(114)一端与所述窄带滤光片(112)相连，所述第二单色仪(114)另一端与所述第二光电倍增管(116)相连，所述稳压电源(118)安装在所述第一光电倍增管(115)、所述第二光电倍增管(116)之间，所述前置放大器(117)分别与所述第一光电倍增管(115)、所述第二光电倍增管(116)相连，所述单光子计数器(119)与所述前置放大器(117)相连。 4.根据权利要求3所述的二次谐波和双光子荧光同时原位测量装置，其特征在于：所述分束器(109)将信号光分成两束光后，其中一束信号光经过所述带通滤光片(111)，挑选出双光子荧光信号，然后通过安装在所述第一单色仪(113)上的所述第一光电倍增管(115)探测，另一束信号光经过所述窄带滤光片(112)，挑选出二次谐波信号，然后通过安装在第二单色仪(114)上的第二光电倍增管(116)探测。 5.根据权利要求1所述的二次谐波和双光子荧光同时原位测量装置，其特征在于：该二次谐波和双光子荧光同时原位测量装置包括第一反射镜(103)、第二反射镜(108)、第三反射镜(110)，所述第一反射镜(103)安装在所述激光器(101)与所述样品池(106)之间，所述第二反射镜(108)安装在所述样品池(106)与所述可见光分束器(109)之间，所述第三反射镜(110)安装在所述窄带滤光片(112)和所述可见光分束器(109)之间。 6.根据权利要求5所述的二次谐波和双光子荧光同时原位测量装置，其特征在于：该二次谐波和双光子荧光同时原位测量装置包括可变中性密度滤光片(102)，所述可变中性密度滤光片(102)安装在所述激光器(101)与所述第一反射镜(103)之间，所述可变中性密度滤光片(102)用于衰减所述激光器(101)输出的功率，使输入到所述样品的光功率不至于损坏样品。 7.根据权利要求5所述的二次谐波和双光子荧光同时原位测量装置，其特征在于：该二次谐波和双光子荧光同时原位测量装置包括高通滤光片(104)，所述高通滤光片(104)安装在所述第一反射镜(103)与所述样品池(106)之间，所述高通滤光片(104)过滤所述激光器(101)产生的高频光。 8.根据权利要求7所述的二次谐波和双光子荧光同时原位测量装置，其特征在于：该二次谐波和双光子荧光同时原位测量装置包括透镜(105)，所述透镜(105)安装在所述高通滤光片(104)与所述样品池(106)之间。 9.根据权利要求5所述的二次谐波和双光子荧光同时原位测量装置，其特征在于：该二次谐波和双光子荧光同时原位测量装置包括透镜组(107)，所述透镜组(107)安装在所述样品池(106)与所述第二反射镜(108)之间。 10.根据权利要求2所述的二次谐波和双光子荧光同时原位测量装置，其特征在于：该二次谐波和双光子荧光同时原位测量装置包括计算机(120)，所述单光子计数器(119)与所述计算机(120)相连，所述单光子计数器(119)采集的信号最终由所述计算机(120)程序导出；所述激光器(101)为超短脉冲激光器；所述样品池(106)为带有搅拌装置的圆柱形全内反射构型石英样品池；所述可见光分束器(109)为起始波长490nm的长波通二向色镜。
所属类别：	发明专利