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一种下古生界页岩中有机质孔隙结构分析方法
| 专利名称： | 一种下古生界页岩中有机质孔隙结构分析方法 |
| 摘要： | 本发明公开一种下古生界页岩中有机质孔隙结构分析方法，包括如下步骤：光学尺度、二维扫描电镜观察，并选取典型有机质三维切割重建，对目标有机质孔隙结构进行详细观察和图像采集；利用图像分析软件对不同有机质面孔率、孔径分布、孔隙度等特征参数进行定量表征。采用本发明方法能够对下古生界页岩有机质孔隙形貌结构进行准确、可靠的分析，从而解决对有机质孔隙结构的定量分析问题。为建立对下古生界页岩中有机质孔隙结构的研究具有重大的指导意义，能够对下古生界页岩中有机质的研究以及对下古生界页岩气的勘测和开采提供较好的参考。 |
| 专利类型： | 发明专利 |
| 国家地区组织代码： | 重庆;50 |
| 申请人： | 重庆地质矿产研究院 |
| 发明人： | 栾进华;李梦来;何廷鹏;胡科;李甜;杨洁;杨柳;浮爱青;汪雄;车平平 |
| 专利状态： | 有效 |
| 申请日期： | 2019-05-15T00:00:00+0800 |
| 发布日期： | 2019-08-16T00:00:00+0800 |
| 申请号： | CN201910403092.0 |
| 公开号： | CN110132816A |
| 代理机构： | 重庆博凯知识产权代理有限公司 |
| 代理人： | 张先芸 |
| 分类号： | G01N15/08(2006.01);G;G01;G01N;G01N15 |
| 申请人地址： | 401120 重庆市渝北区兰馨大道111号 |
| 主权项： | 1.一种下古生界页岩中有机质孔隙结构分析方法，其特征在于，包括如下步骤： 1）光学尺度、二维扫描电镜观察，并选取典型有机质三维切割重建，对目标有机质孔隙结构进行详细观察和图像采集； 2）利用图像分析软件对不同有机质面孔率、孔径分布、孔隙度等特征参数进行定量表征。 2.根据权利要求1所述下古生界页岩中有机质孔隙结构分析方法，其特征在于，所述步骤1）包括： （1）在低倍镜即光学显微镜下观察有机质碎屑形状、大小、空间分布等特征，识别有机质形态； （2）在高倍镜即扫描电镜下详细观察有机质孔隙的形状、产状、连通等情况，测量孔隙大小，并根据孔隙的多少和大小描述孔隙发育程度； （3）依据有机质碎屑类型的不同，选择10μm×10μm的有机质颗粒，用超高分辨双束扫描电镜（FIB-SEM）进行连续切割和成像：设置电子束采集切割面成像参数，调整离子束流参数，采用仪器自带的软件进行连续离子束切割和电子束成像，切割间距可设置为5-20nm，切割图像一般在500张以上。 3.根据权利要求1所述下古生界页岩中有机质孔隙结构分析方法，其特征在于，所述步骤2）为： （1）三维重构和数据处理：将三维切割的图像导入三维重建软件，滤波除噪，进行三维重建；依据矿物灰度的差异，将页岩有机质、孔隙、不同矿物进行分割重建； （2）有机质孔隙结构分析：观察描述不同类型有机质的孔隙发育特征，包括不同有机质孔隙的形态、大小和分布特征；三维展示有机质孔隙的空间分布特征，定量评价有机质孔隙的孔径分布、孔隙度、连通性等特征。 4.根据权利要求1所述下古生界页岩中有机质孔隙结构分析方法，其特征在于，所述图像分析软件为JMicrovison或Avizo等图像分析软件。 |
| 所属类别： | 发明专利 |
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