专利名称: |
一种ACFM技术簇状裂纹表面轮廓自动识别方法 |
摘要: |
本发明公开一种ACFM技术簇状裂纹表面轮廓自动识别方法,步骤是:采用ACFM阵列探头沿管道轴向方向扫查,获取簇状裂纹磁场二维数组;将二维数组中的每个磁场数据分别与和其相邻的4个数据做差,根据差值的和判断该点位置为左尖端或右尖端,并记录该裂纹尖端数据在二维数组中的索引;建立与簇状裂纹磁场二维数组相同大小的单位二维数组,数组元素均赋1;进行裂纹左尖端和右尖端配对,将单位二维数组中每对裂纹左右尖端数组索引之间的数据置为0,以数组数据为基础绘制图像,即得到簇状裂纹的表面轮廓。此种方法可实现簇状裂纹中裂纹数量、长度、间距和角度等表面轮廓信息的自动识别。 |
专利类型: |
发明专利 |
国家地区组织代码: |
江苏;32 |
申请人: |
南京航空航天大学 |
发明人: |
葛玖浩;杨晨开;王海涛;王平 |
专利状态: |
有效 |
申请日期: |
2019-06-03T00:00:00+0800 |
发布日期: |
2019-09-10T00:00:00+0800 |
申请号: |
CN201910475723.X |
公开号: |
CN110220967A |
代理机构: |
南京经纬专利商标代理有限公司 |
代理人: |
葛潇敏 |
分类号: |
G01N27/83(2006.01);G;G01;G01N;G01N27 |
申请人地址: |
210016 江苏省南京市秦淮区御道街29号 |
主权项: |
1.一种ACFM技术簇状裂纹表面轮廓自动识别方法,其特征在于包括如下步骤: 步骤1,将ACFM阵列探头放置在试件无缺陷位置,提取一列垂直于试件表面方向的无缺陷磁场信号,作为参考信号; 步骤2,采用ACFM阵列探头沿管道轴向方向扫查,采集的数据与参考信号相减后,获取簇状裂纹磁场二维数组,其中,二维数组的行数为ACFM阵列探头中传感器个数n1,二维数组的列数为编码器输出的离散位移数据个数n2; 步骤3,将二维数组中的每个磁场数据分别与和其相邻的4个数据做差,若四个差值之和大于等于阈值P,则判定该点位置为一个裂纹的左尖端,并记录该裂纹左尖端数据在二维数组中的索引LN(x,y);若四个差值之和小于等于-P,则判定该点位置为一个裂纹的右尖端,并记录该裂纹右尖端数据在二维数组中的索引RN(x,y),最终,遍历所有数据,得到所有裂纹左尖端和右尖端数组索引以及裂纹数; 步骤4,建立与簇状裂纹磁场二维数组相同大小的单位二维数组,数组元素均赋1; 步骤5,根据裂纹左尖端和右尖端数组索引数据,进行裂纹左尖端和右尖端配对; 步骤6,将单位二维数组中每对裂纹左右尖端数组索引之间的数据置为0,以数组数据为基础绘制图像,即得到簇状裂纹的表面轮廓。 2.如权利要求1所述的ACFM技术簇状裂纹表面轮廓自动识别方法,其特征在于:所述步骤3中,若二维数组中的某个磁场数据位于边缘,则将其相邻数据补零后再进行做差。 3.如权利要求1所述的ACFM技术簇状裂纹表面轮廓自动识别方法,其特征在于:所述步骤5的具体内容是:对于得到的裂纹左尖端和右尖端数组索引数据,将数组索引行数相同的裂纹左尖端和右尖端定义为同一裂纹的尖端,遍历所有裂纹尖端数据,删除无法配对的裂纹数据。 4.如权利要求1所述的ACFM技术簇状裂纹表面轮廓自动识别方法,其特征在于:所述步骤3中,阈值P设为3。 |
所属类别: |
发明专利 |