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原文传递激光超声模量测量装置

专利名称：	激光超声模量测量装置
摘要：	本发明提供了一种激光超声模量测量装置，用于测量材料的模量，所述激光超声模量测量装置包括测试微区放大及成像装置。所述激光超声模量测量装置包括：激光超声激发器，所述激光超声激发器被配置为向材料发射脉冲激光；和激光超声接收器，所述激光超声接收器被配置为发出探测激光。进一步地，所述激光超声模量测量装置包括第一光路和从第一光路分支出的第二光路，并且所述测试微区放大及成像装置包括物镜和摄像头。根据本发明的激光超声模量测量装置，能够进行材料的模量检测，并且对材料的形状和尺寸要求较低。
专利类型：	发明专利
国家地区组织代码：	北京;11
申请人：	国家电投集团科学技术研究院有限公司
发明人：	王婉琳;孔淑妍;燕鹏;马雪;虞楠;李高盛;夏海鸿;李怀林
专利状态：	有效
申请日期：	2018-03-01T00:00:00+0800
发布日期：	2019-09-10T00:00:00+0800
申请号：	CN201810171114.0
公开号：	CN110220975A
代理机构：	中科专利商标代理有限责任公司
代理人：	王慧忠
分类号：	G01N29/06(2006.01);G;G01;G01N;G01N29
申请人地址：	102209 北京市昌平区未来科技城南区
主权项：	1.一种激光超声模量测量装置，用于测量材料(11)的模量，其特征在于，所述激光超声模量测量装置包括测试微区放大及成像装置。 2.根据权利要求1所述的激光超声模量测量装置，其特征在于，所述激光超声模量测量装置包括：激光超声激发器(1)，所述激光超声激发器(1)被配置为向材料(11)发射脉冲激光；和激光超声接收器(9)，所述激光超声接收器(9)被配置为发出探测激光。 3.根据权利要求2所述的激光超声模量测量装置，其特征在于，所述激光超声模量测量装置包括第一光路和从第一光路分支出的第二光路，并且所述测试微区放大及成像装置包括物镜(2)和摄像头(8)；其中，所述物镜(2)和摄像头(8)同轴设置在第一光路上，并且第一光路还包括第一聚焦透镜(3)、第二聚焦透镜(4)、半透半反镜(5)和第三聚焦透镜(7)，第一聚焦透镜(3)、第二聚焦透镜(4)、半透半反镜(5)和第三聚焦透镜(7)依次设置在物镜(2)和摄像头(8)之间；并且在所述第二光路上设置有所述激光超声接收器(9)和反光镜(6)，并且第二光路在所述半透半反镜(5)处与第一光路汇合。 4.根据权利要求3所述的激光超声模量测量装置，其特征在于，所述激光超声激发器(1)的平均输出功率为0.8-1.2W。 5.根据权利要求4所述的激光超声模量测量装置，其特征在于，所述激光超声接收器(9)为双波混合型干涉仪或共焦Fabry-Perot型干涉仪。 6.根据权利要求5所述的激光超声模量测量装置，其特征在于，所述摄像头(8)为CCD摄像头。 7.根据权利要求6所述的激光超声模量测量装置，其特征在于，所述激光超声接收器(9)发出的探测激光通过物镜后的光斑直径介于10-750μm之间。 8.根据权利要求7所述的激光超声模量测量装置，其特征在于，所述激光超声接收器(9)固定设置，并且所述激光超声激发器(1)活动设置，以形成固定的探测光路和活动的激发光路。 9.根据权利要求7所述的激光超声模量测量装置，其特征在于，所述激光超声激发器(1)固定设置，并且所述激光超声接收器(9)活动设置，以形成固定的激发光路和活动的探测光路。 10.根据权利要求1-9中任一项所述的激光超声模量测量装置，其特征在于，所述激光超声模量测量装置还包括数据采集和处理系统(10)，用于对接收信号进行采集和处理。
所属类别：	发明专利