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原文传递 一种双光路冷镜式露点仪
专利名称: 一种双光路冷镜式露点仪
摘要: 本发明涉及精密仪器技术领域,且公开了一种双光路冷镜式露点仪,包括检测头、设于检测头顶部的观察窗和设于检测头底部的制冷装置,所述检测头内腔的上下端分别设有补偿镜和检测冷镜,所述观察窗位于补偿镜的顶部,所述制冷装置位于检测冷镜的正下方,所述检测头的壁板且位于补偿镜和检测冷镜之间的位置设有入射补偿光路、反射补偿光路、入射检测光路和反射检测光路,所述入射补偿光路和反射补偿光路对应布置形成光学反射系统并用于消除误差。本发明通过将双光路置于同一个检测室内,可使得补偿镜和检测冷镜实现变量控制,由补偿镜消除检测冷镜对于温度、气体杂质等影响光学参数的环境条件误差,从而使得检测冷镜检测的湿度结果更加精准。
专利类型: 发明专利
国家地区组织代码: 湖南;43
申请人: 张帆
发明人: 张帆
专利状态: 有效
申请日期: 2019-06-20T00:00:00+0800
发布日期: 2019-08-30T00:00:00+0800
申请号: CN201910534739.3
公开号: CN110186955A
分类号: G01N25/68(2006.01);G;G01;G01N;G01N25
申请人地址: 413000 湖南省益阳市安化县羊角塘镇黄龙村
主权项: 1.一种双光路冷镜式露点仪,包括检测头(1)、设于检测头(1)顶部的观察窗(4)和设于检测头(1)底部的制冷装置(5),其特征在于:所述检测头(1)内腔的上下端分别设有补偿镜(2)和检测冷镜(3),所述观察窗(4)位于补偿镜(2)的顶部,所述制冷装置(5)位于检测冷镜(3)的正下方,所述检测头(1)的壁板且位于补偿镜(2)和检测冷镜(3)之间的位置设有入射补偿光路(6)、反射补偿光路(7)、入射检测光路(8)和反射检测光路(9),所述入射补偿光路(6)和反射补偿光路(7)对应布置形成光学反射系统并用于消除误差,所述入射检测光路(8)和反射检测光路(9)对应布置形成光学反射系统并用于露点检测,检测头(1)的壁板还设有用于被测气体通入和排出的进气口(10)和出气口(11)。 2.根据权利要求1所述的一种双光路冷镜式露点仪,其特征在于:所述进气口(10)位于检测冷镜(3)的附近且位于入射检测光路(8)的下方,所述出气口(11)位于补偿镜(2)的附近且位于反射补偿光路(7)的上方。 3.根据权利要求2所述的一种双光路冷镜式露点仪,其特征在于:所述入射检测光路(8)与入射补偿光路(6)的位置设于检测头(1)的同侧。 4.根据权利要求1所述的一种双光路冷镜式露点仪,其特征在于:所述观察窗(4)设于补偿镜(2)顶部的偏心位置。 5.根据权利要求1所述的一种双光路冷镜式露点仪,其特征在于:所述检测冷镜(3)和补偿镜(2)在检测时倒置,所述检测冷镜(3)位于补偿镜(2)的正上方。
所属类别: 发明专利
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