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原文传递一种用于核燃料棒包壳表面检测的方法、装置

专利名称：	一种用于核燃料棒包壳表面检测的方法、装置
摘要：	本发明公开了一种用于核燃料棒包壳表面检测的方法、装置，所述包壳呈圆柱状。其中，所述方法包括：针对待测圆柱体中至少两个长度对应的至少两组待测圆柱区段，采用至少两个图像采集器获取每组待测圆柱区段表面的3D点云数据；基于所述每组待测圆柱区段表面的3D点云数据中的深度信息，确定每组待测圆柱区段的表面缺陷。本发明实施例，实现了对核燃料棒包壳表面缺陷精准、快速的检测。
专利类型：	发明专利
国家地区组织代码：	四川;51
申请人：	中核建中核燃料元件有限公司
发明人：	谭耘;牛广升;肖鸣波;金鳞;徐小武;龙鑫云;张多军;谢强;邓话;李明燕;尤亚飞;陈浩;戚翔尔;朱江兵
专利状态：	有效
申请日期：	2019-03-28T00:00:00+0800
发布日期：	2019-08-16T00:00:00+0800
申请号：	CN201910244006.6
公开号：	CN110132975A
代理机构：	北京品源专利代理有限公司
代理人：	孟金喆
分类号：	G01N21/88(2006.01);G;G01;G01N;G01N21
申请人地址：	644000 四川省宜宾市马鸣溪
主权项：	1.一种用于核燃料棒包壳表面检测的方法，所述包壳呈圆柱状，其特征在于，所述方法包括：针对待测圆柱体中至少两个长度对应的至少两组待测圆柱区段，采用至少两个图像采集器获取每组待测圆柱区段表面的3D点云数据；基于所述每组待测圆柱区段表面的3D点云数据中的深度信息，确定每组待测圆柱区段的表面缺陷。 2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述基于所述每组待测圆柱区段表面的3D点云数据中的深度信息，确定每组待测圆柱区段的表面缺陷之后，还包括：基于各组待测圆柱区段表面缺陷的位置信息，拼接各组待测圆柱区段表面的缺陷得到所述待测圆柱表面的整体缺陷信息。 3.根据权利要求1或2所述的方法，其特征在于，所述确定每组待测圆柱区段的表面缺陷之后，还包括：将所述待测圆柱表面中每个缺陷的深度信息和预设深度信息标准值进行比较；若所述缺陷的深度信息小于所述预设深度信息标准值，则获取待测圆柱表面的3D点云数据中的位置信息；根据所述位置信息对同一截面的缺陷进行宽度累加，将累加得到的宽度值和预设宽度标准值进行比较，若所述累加得到的宽度值小于所述预设宽度标准值，则判断所述缺陷为可接受缺陷。 4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述针对待测圆柱体中至少两个长度对应的至少两组待测圆柱区段，采用至少两个图像采集器获取每组待测圆柱区段表面的3D点云数据包括：针对每一组待测圆柱区段，以待测圆柱轴心线为旋转轴，在所述轴心线的方向上控制所述待测圆柱体旋转；控制所述至少两个图像采集器获取该组待测圆柱区段表面的3D点云数据。 5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，采用至少两个图像采集器获取每组待测圆柱区段表面的3D点云数据之后，还包括：控制待测圆柱体按照预设长度调整移动步长，以得到每组待测圆柱区段。 6.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述基于所述每组待测圆柱区段表面的3D点云数据中的深度信息，确定每组待测圆柱区段的表面缺陷缺陷包括：基于每组待测圆柱区段表面的3D点云数据中的深度信息进行灰度化，以得到每组待测圆柱区段表面的灰度图像；基于每组待测圆柱区段表面的灰度图像中的灰度值和预设缺陷条件，确定每组待测圆柱区段表面的缺陷。 7.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述基于各组待测圆柱区段表面缺陷的位置信息，拼接各组待测圆柱区段表面的缺陷得到所述待测圆柱表面的整体缺陷信息之后，还包括：根据所述待测圆柱表面的整体缺陷信息中每个缺陷包括的行数和列数，从每个缺陷中确定至少两个缺陷元；根据所述缺陷元的缺陷信息，确定每个缺陷的缺陷信息。 8.根据权利要求7所述的方法，其特征在于，所述根据所述缺陷元的缺陷信息，确定每个缺陷的缺陷信息，包括：确定每个缺陷中各缺陷元的灰度最小值与该缺陷元相邻的背景元像素的灰度值的差值；根据所述差值确定每个缺陷的缺陷深度。 9.根据权利要求8所述的方法，其特征在于，所述根据所述差值确定每个缺陷的缺陷深度，包括如下至少一项：确定所述差值中数值最大的至少两个差值的均值，将确定的均值作为每个缺陷的缺陷深度；确定所有所述差值的均值，将确定的均值作为每个缺陷的缺陷深度；确定所有所述差值的中位数，将确定的中位数作为每个缺陷的缺陷深度。 10.一种用于核燃料棒包壳表面检测的装置，所述包壳呈圆柱状，其特征在于，包括： 3D点云数据获取模块，用于针对待测圆柱体中至少两个长度对应的至少两组待测圆柱区段，采用至少两个图像采集器获取每组待测圆柱区段表面的3D点云数据；表面缺陷确定模块，用于基于所述每组待测圆柱区段表面的3D点云数据中的深度信息，确定每组待测圆柱区段的表面缺陷。
所属类别：	发明专利