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原文传递一种用于芯片检测的上下料装置

专利名称：	一种用于芯片检测的上下料装置
摘要：	本实用新型公开了一种用于芯片检测的上下料装置，包括机体，机体上设有工件载板以及用于承载工件载板的载板载台；载板载台固定于机体上；翻转机构，包括翻转台、接收台、压紧组件以及翻转台驱动组件，翻转台用于承载装载芯片的料盘；压紧组件可向着靠近或者远离翻转台的端面运动；压紧组件用于在向着靠近翻转台的端面运动后与翻转台的端面间隔形成用于固定工件载板的固定间隙；翻转台驱动组件用于带动翻转台转动至接收台上；搬运机械手，用于带动工件载板在载板载台和翻转机构之间往复运动。本实用新型的用于芯片检测的上下料装置，其可对整个料盘进行翻转，然后再通过搬运机械手搬运料盘至检测设备处即可，提高上料效率。
专利类型：	实用新型
国家地区组织代码：	广东;44
申请人：	深圳眼千里科技有限公司
发明人：	李久林;雷茜;邓红华;王理林;阳小冬
专利状态：	有效
申请日期：	2018-12-28T00:00:00+0800
发布日期：	2019-09-10T00:00:00+0800
申请号：	CN201822244207.X
公开号：	CN209367303U
代理机构：	深圳市鼎泰正和知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人：	代春兰
分类号：	B65G47/90(2006.01);B;B65;B65G;B65G47
申请人地址：	518000 广东省深圳市龙岗区平湖街道新南社区平安大道33号H栋一、二层
主权项：	1.一种用于芯片检测的上下料装置，其特征在于，包括，机体，机体上设有工件载板以及用于承载工件载板的载板载台；载板载台固定于机体上；翻转机构，包括翻转台、接收台、压紧组件以及翻转台驱动组件，翻转台用于承载装载芯片的料盘；压紧组件可向着靠近或者远离翻转台的端面运动；压紧组件用于在向着靠近翻转台的端面运动后与翻转台的端面间隔形成用于固定工件载板的固定间隙；翻转台驱动组件用于带动翻转台转动至接收台上；搬运机械手，用于带动工件载板在载板载台和翻转机构之间往复运动。 2.如权利要求1所述的用于芯片检测的上下料装置，其特征在于，压紧组件包括压紧臂以及压紧臂气缸，压紧臂包括驱动臂段以及压臂段；压紧臂气缸的缸体固定于翻转台的底端，压紧臂气缸的活塞杆沿翻转台的宽度方向延伸并与驱动臂段的底端固定；驱动臂段的顶端与压臂段连接；压紧臂位于翻转台的上方并用于与翻转台的端面形成所述固定间隙。 3.如权利要求1所述的用于芯片检测的上下料装置，其特征在于，翻转台驱动组件包括翻转电机以及转动轴，转动轴的轴线沿水平方向延伸；转动轴枢接于机体上并与翻转电机的转轴同步联接；翻转台与接收台位于转动轴的两侧；翻转台与转动轴联接；翻转台驱动组件还可包括同步带、两个同步轮，两个同步轮均枢接于机体上并沿机体的高度方向间隔分布；同步带的两端分别绕设于两个同步轮上；其中一个同步轮与机体的转轴联接；所述转动轴与另一个同步轮联接。 4.如权利要求1所述的用于芯片检测的上下料装置，其特征在于，搬运机械手包括夹取组件、第一驱动组件、第二驱动组件以及第三驱动组件，第一驱动组件用于带动夹取组件沿机体的长度方向运动；第二驱动组件用于带动夹取组件沿机体的宽度方向运动；第三驱动组件用于带动夹取组件沿机体的高度方向运动；第一驱动组件包括第一丝杆电机、第一螺母、第一导轨以及第一安装架；第一丝杆电机安装在机体上，第一丝杆电机的丝杆以及第一导轨均沿机体的长度方向延伸；第一螺母螺纹套装于第一丝杆电机的丝杆外；第一安装架与第一螺母固定并与第一导轨滑动配合；第二驱动组件安装在第一安装架上；包括第二丝杆电机、第二螺母、第二导轨以及第二安装架；第二丝杆电机安装在机体上，第二丝杆电机的丝杆以及第二导轨均沿机体的高度方向延伸；第二螺母螺纹套装于第二丝杆电机的丝杆外；第二安装架与第二螺母固定并与第二导轨滑动配合；第三驱动组件包括第一电动滑台，第一电动滑台安装于第二安装架上并沿机体的宽度方向设置；夹取组件安装在第一电动滑台的滑台上。 5.如权利要求1所述的用于芯片检测的上下料装置，其特征在于，夹取组件包括夹取架、夹臂、定位臂以及推臂；夹取架的两侧均设有所述夹臂，夹取架两侧的夹臂可沿夹取臂的宽度方向相互靠近或者相互远离；夹取臂的两端均设有所述定位臂以及所述推臂；推臂位于定位臂的外侧；推臂可沿夹取架的高度方向运动；所述工件载板的两端均设有供定位臂插接的定位孔。 6.如权利要求5所述的用于芯片检测的上下料装置，其特征在于，夹取架上设有夹臂气缸，夹臂气缸的缸体固定于夹取架的顶端；夹臂气缸的活塞杆沿夹取架的宽度方向延伸；夹臂气缸的活塞杆与其中一个夹臂固定。 7.如权利要求5所述的用于芯片检测的上下料装置，其特征在于，夹取架的两端均设有推臂气缸，推臂气缸的缸体固定于夹取架上；推臂气缸的活塞杆沿夹取臂的高度方向延伸；推臂气缸的活塞杆与推臂固定。 8.如权利要求1所述的用于芯片检测的上下料装置，其特征在于，机体上设有两个翻转机构，两个翻转机构沿机体的长度方向间隔分布并位于搬运机械手的两侧。 9.如权利要求8所述的用于芯片检测的上下料装置，其特征在于，机体上设有上料机构以及下料机构，上料机构包括料框以及料框驱动组件，料框设有多个料盘槽；料盘槽沿机体的高度方向间隔分布；料框驱动组件用于带动料框沿机体的高度方向运动以使其中一个料盘槽衔接于其中一个翻转机构的翻转台；下料机构与上料机构结构相同；下料机构的料框与另一个翻转机构的接收台衔接。 10.如权利要求1所述的用于芯片检测的上下料装置，其特征在于，机体上设有次品机械手以及次品载台，次品机械手用于夹取次品在次品载台和载板载台之间运动。
所属类别：	实用新型