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原文传递电芯的测量方法

专利名称：	电芯的测量方法
摘要：	一种电芯的测量方法，其包括如下步骤：S1：将待检测的电芯移动至下料输送机构上；S2：当待检测的电芯到达第一检测位置时，第一电芯边缘调整组件动作，分别抵靠待检测的电芯的隔膜的两端；S3：图像采集装置对待检测的电芯的一端进行拍照，并算出隔膜与正、负极片之间距离，以判断待检测的电芯的一端的质量是否合格；S4：当待检测的电芯到达第二检测位置时，第二电芯边缘调整组件动作，分别抵靠待检测的电芯的隔膜的两端；S5：图像采集装置对待检测的电芯的另一端进行拍照，并算出隔膜与正、负极片之间距离，以判断待检测的电芯的另一端的质量是否合格。相较于现有技术，本申请解决了行业里测隔膜的难题。
专利类型：	发明专利
国家地区组织代码：	江苏;32
申请人：	无锡先导智能装备股份有限公司
发明人：	不公告发明人
专利状态：	有效
申请日期：	2019-05-09T00:00:00+0800
发布日期：	2019-08-20T00:00:00+0800
申请号：	CN201910386488.9
公开号：	CN110146517A
代理机构：	苏州佳博知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人：	罗宏伟
分类号：	G01N21/892(2006.01);G;G01;G01N;G01N21
申请人地址：	214028 江苏省无锡市国家高新技术产业开发区新锡路20号
主权项：	1.一种电芯的测量方法，其包括如下步骤： S1：将待检测的电芯移动至下料输送机构上； S2：当待检测的电芯到达第一检测位置时，第一电芯边缘调整组件动作，使基准端以及图像采集端沿宽度方向分别抵靠待检测的电芯的隔膜的两端； S3：图像采集装置对待检测的电芯的一端进行拍照，并算出隔膜与正极片之间距离以及隔膜与负极片之间距离，以判断待检测的电芯的一端的质量是否合格； S4：当待检测的电芯到达第二检测位置时，第二电芯边缘调整组件动作，使基准端以及图像采集端沿宽度方向分别抵靠待检测的电芯的隔膜的两端； S5：图像采集装置对待检测的电芯的另一端进行拍照，并算出隔膜与正极片之间距离以及隔膜与负极片之间距离，以判断待检测的电芯的另一端的质量是否合格。 2.如权利要求1所述的电芯的测量方法，其特征在于：在步骤S3以及步骤S5中，所述图像采集装置对位于所述图像采集端的待检测的电芯进行拍照，以得到所述图像采集端、正极片以及负极片的位置图像。 3.如权利要求1所述的电芯的测量方法，其特征在于：在步骤S2以及步骤S4中，所述基准端为标定端，所述图像采集端为浮动端；当待检测的电芯到达所述第一检测位置或者所述第二检测位置时，所述标定端先移动至指定位置，然后所述浮动端推动待检测的电芯的一端至待检测的电芯的另一端与所述标定端相抵靠。 4.如权利要求3所述的电芯的测量方法，其特征在于：所述第一电芯边缘调整组件与所述第二电芯边缘调整组件均设有所述标定端以及所述浮动端，其中所述第一电芯边缘调整组件的标定端与所述第二电芯边缘调整组件的标定端分别位于所述下料输送机构的两侧且在所述下料输送机构的延伸方向上错开；所述第一电芯边缘调整组件的浮动端与所述第二电芯边缘调整组件的浮动端分别位于所述下料输送机构的两侧且在所述下料输送机构的延伸方向上错开。 5.如权利要求1所述的电芯的测量方法，其特征在于：在步骤S3以及步骤S5中，所述图像采集装置为X光检测机。 6.如权利要求1所述的电芯的测量方法，其特征在于：还包括如下步骤： S6：如果待检测的电芯不合格，则通过踢废组件将其剔除到废料盒中。 7.一种电芯的测量方法，其包括如下步骤： S1：将待检测的电芯移动至下料输送机构上； S2：当待检测的电芯到达第一检测位置时，第一电芯边缘调整组件动作，使基准端以及图像采集端沿宽度方向分别抵靠待检测的电芯的隔膜的两端； S3：图像采集装置对待检测的电芯的一端进行拍照，将所拍得的图像与标定电芯的图像进行比对，并算出待检测的电芯的隔膜的宽度、正极片与隔膜一端的间距以及负极片与隔膜一端的间距； S4：当待检测的电芯到达第二检测位置时，第二电芯边缘调整组件动作，使基准端以及图像采集端沿宽度方向分别抵靠待检测的电芯的隔膜的两端； S5：图像采集装置对待检测的电芯的另一端进行拍照，并算出正极片与隔膜另一端的间距以及负极片与隔膜另一端的间距，并算出所述正极片的宽度以及所述负极片的宽度。 8.如权利要求7所述的电芯的测量方法，其特征在于：步骤S3中所述标定电芯的图像是通过如下步骤得到的： S01：将标定电芯移动至下料输送机构上； S02：当标定电芯到达检测位置时，第一电芯边缘调整组件及/或第二电芯边缘调整组件动作，使基准端以及图像采集端沿宽度方向分别抵靠标定电芯的隔膜的两端； S03：图像采集装置对标定电芯的一端进行拍照，并得到所述标定电芯的图像。 9.如权利要求7所述的电芯的测量方法，其特征在于：在步骤S2以及步骤S4中，所述基准端为标定端，所述图像采集端为浮动端；当待检测的电芯到达所述第一检测位置或者所述第二检测位置时，所述标定端先移动至指定位置，然后所述浮动端推动待检测的电芯的一端至待检测的电芯的另一端与所述标定端相抵靠。 10.如权利要求7所述的电芯的测量方法，其特征在于：在步骤S5中，所述正极片的宽度以及所述负极片的宽度分别通过如下算法得到：正极片的宽度＝隔膜的宽度-正极片与隔膜一端的间距-正极片与隔膜另一端的间距；负极片的宽度＝隔膜的宽度-负极片与隔膜一端的间距-负极片与隔膜另一端的间距。
所属类别：	发明专利