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原文传递分析物检测仪表和相关使用方法

专利名称：	分析物检测仪表和相关使用方法
摘要：	提供用于获得编码在电化学试验条上的信息的方法。所述试验条具有两个配置在样品空间内的电极并在引入液体样品之前将信息编码在试验条上。该方法包括将样品引入样品空间使得样品与样品空间内的两个电极接触的步骤。在另一个步骤中，测定代表试验条的双层电容和/或试验条的等效电容的值。随后将测定值转换为反映引入样品前试验条的特征的信息。
专利类型：	发明专利
国家地区组织代码：	美国;US
申请人：	埃葛梅崔克斯股份有限公司
发明人：	S.尹加;I.哈丁;R.威廉斯;H.(K.) 蔡
专利状态：	有效
申请日期：	2014-02-14T00:00:00+0800
发布日期：	2019-08-23T00:00:00+0800
申请号：	CN201811590499.0
公开号：	CN110161221A
代理机构：	中国专利代理(香港)有限公司
代理人：	彭昶;黄念
分类号：	G01N33/487(2006.01);G;G01;G01N;G01N33
申请人地址：	美国新罕布什尔州
主权项：	1.用于获得编码在电化学试验条上的特征信息的方法，所述电化学试验条具有两个配置在样品空间内的电极，其中在引入样品之前将所述特征信息编码在所述试验条上，所述方法包含以下步骤： (a)将样品引入所述样品空间，使得所述样品与所述样品空间内的两个电极接触， (b)测定代表所述试验条的双层电容或等效电容的值， (c)将步骤(b)中测定的值转换为反映引入样品之前所述试验条的特征的信息，和 (d)基于步骤(c)中转换的所述特征信息实施行动，从而获得编码在所述电化学试验条上的信息。 2.权利要求1所述的方法，其进一步包含步骤(a)之后实施的测定样品是否完全覆盖所述样品空间内的电极的步骤。 3.权利要求1或2所述的方法，其中使用以下步骤实施步骤(b)： (i)在所述试验条的电极之间施加电势差， (ii)断开所述施加电势并任选地再施加第二电势， (iii)观察产生的电流并由所述观察的电流测定在所述电极处的双层充电或放电，和 (iv)观察断开所述施加电势之后的电压变化，和 (v)由测量的双层充电或放电以及观察到的电压变化测定所述试验条的双层电容。 4.权利要求1或2所述的方法，其中使用以下步骤实施步骤(b)： (i)在所述试验条的电极之间施加具有选择振幅和选择频率的交流电压， (ii)测量由步骤(I)中所述电势施加而产生的所述电流，和 (iii)由步骤(ii)中测量的所述电流测定所述试验条的等效电容，其中所述等效电容包括所述试验条的双层电容和法拉第电容两者。 5.权利要求l或2所述的方法，其中使用以下步骤实施步骤(b)： (i)在所述试验条的电极之间施加电势差，从而给所述试验条充电，其中在所述试验条内造成双层电容并通过给所述试验条充电来产生电压， (ii)将通过给所述试验条充电而造成的所述电压转换为具有与所造成的双层电容成比例的周期的振荡电压，和 (iii)观察所述振荡电压，和 (iv)由观察到的振荡电压测定所述试验条的等效电容。 6.权利要求1-5中任一项所述的方法，其中所述编码在所述条上的特征信息选自：校准信息、区域或国家代码、产品识别、用户识别、试验类型和制造日期。 7.权利要求1-6中任一项所述的方法，其中所述基于步骤(c)中测定的所述特征信息在步骤(d)中实施的行动是修改对配置在所述试验条的样品空间内的样品中的分析物的测定。 8.权利要求1-6中任一项所述的方法，其中所述基于步骤(c)中测定的所述特征信息在步骤(d)中实施的行动是向用户显示关于所述试验条的错误信息。 9.用于测定与两个电极接触的样品中的分析物的方法，所述两个电极在电化学试验条的样品空间内，其中所述试验条具有在引入样品之前编码在所述试验条上的特征信息，所述方法包括以下步骤： (a)将样品引入所述样品空间，使得所述样品与所述样品空间内的两个电极接触， (b)测定代表所述试验条的双层电容或等效电容的值， (c)将步骤(b)中测定的值转换为反映在引入样品之前所述试验条的特征的信息， (d)测定配置在所述样品空间内的样品中的分析物，和 (e)将步骤(c)中转化的特征信息用以修改步骤(d)中进行的测定。 10.权利要求9所述的方法，其进一步包含在步骤(a)之后实施的测定样品是否完全覆盖所述样品空间内的电极的步骤。 11.权利要求9或10所述的方法，其中使用以下步骤实施步骤(b)： (i)在所述试验条的电极之间施加电势差， (ii)断开所述施加电势并任选地再施加第二电势， (iii)观察产生的电流并由所观察的电流测定在所述电极处的双层充电或放电，和 (iv)观察断开所述施加电势之后的电压变化，和 (v)由测量的双层充电或放电以及观察到的电压变化测定所述试验条的双层电容。 12.权利要求9或10所述的方法，其中使用以下步骤实施步骤(b)： (i)在所述试验条的电极之间施加具有选择振幅和选择频率的交流电压， (ii)测量由步骤(I)中所述电势施加而产生的所述电流，和 (iii)由步骤(ii)中测量的所述电流测定所述试验条的等效电容，其中所述等效电容包括所述试验条的双层电容和法拉第电容两者。 13.权利要求9或10所述的方法，其中使用以下步骤实施步骤(b)： (i)在所述试验条的电极之间施加电势差，从而给所述试验条充电，其中在所述试验条内造成双层电容并通过给所述试验条充电来产生电压， (ii)将通过给所述试验条充电而造成的所述电压转换为具有与所造成的双层电容成比例的周期的振荡电压，和 (iii)观察所述振荡电压，和 (iv)由观察到的振荡电压测定所述试验条的等效电容。 14.权利要求9-13中任一项所述的方法，其中所述编码在所述条上的特征信息选自：校准信息、区域或国家代码、产品识别、用户识别、试验类型和制造日期。 15.权利要求1的方法，其中对于单一试验条实施所有步骤(a)至(d)。 16.权利要求15的方法，其中在将所述试验条接收于分析物仪表内时，通过分析物仪表实施所有步骤(a)至(d)。 17.权利要求16的方法，其中基于在步骤(c)中测定的特征信息在步骤(d)中实施的行动是修改对配置在所述试验条的样品空间内的样品中的分析物的测定。 18.权利要求16的方法，其中基于在步骤(c)中测定的特征信息在步骤(d)中实施的行动是向用户显示关于所述试验条的错误信息。 19.用于在试验条上编码特征信息的方法，所述试验条具有两个配置在样品空间内的电极和在样品覆盖样品空间中的电极时的双层，所述方法包含进行控制或改变样品空间内的变量的步骤，所述变量影响代表在样品覆盖样品空间中的电极时双层电容的测量值，所述步骤选自：控制或改变样品空间内电极的有效面积；控制或改变样品空间内电极的结构材料；控制或改变样品空间内电极表面；控制或改变样品空间内离子(例如作为盐存在于试剂中的那些离子)的类型或浓度；控制或改变置于样品空间内的介质的类型或浓度，其中所选择的步骤在所述条的制造过程中进行，从而使代表在样品覆盖样品空间中的电极时双层电容的测量值落入多个值的范围内，由此在所述试验条上编码特征信息。 20.权利要求19的方法，其中所述特征信息是反映制造试验条时所述试验条的特征的信息。 21.权利要求19的方法，其中在所述条上编码的特征信息是选自以下的信息：校准信息、区域或国家代码、产品识别、用户识别、试验类型和制造日期。 22.权利要求19的方法，其中所述方法包括控制或改变试验条样品空间内电极的有效面积的步骤，其中所述电极的二维表面积被控制或改变。 23.权利要求22的方法，其中三维表面积被控制或改变。 24.权利要求19的方法，其中所述方法包括控制或改变试验条样品空间内电极的有效面积的步骤，其中三维有效电极面积被控制或改变。 25.权利要求19的方法，其中所述方法包括控制或改变样品空间内电极面积的步骤，其中三维有效电极面积被控制或改变。 26.权利要求19的方法，其中所述方法包括控制或改变离子的类型和/或浓度的步骤，其中所述离子作为盐存在于被置于样品空间内的试剂中。 27.权利要求19的方法，其中当进行所选择的步骤时不同的特征信息被编码到所述条，从而使代表双层的电容的测量值落入多个值的不同范围内。
所属类别：	发明专利