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原文传递一种基于轻气炮冲击加载下样品透射率的测量装置

专利名称：	一种基于轻气炮冲击加载下样品透射率的测量装置
摘要：	本发明涉及动态加载技术领域，具体涉及一种基于轻气炮冲击加载下样品透射率的测量装置，包括轻气炮、真空仓和信号收集装置，通过一组电探针产生电信号用于判断飞片和基板相碰撞的时间点，另一组电探针接通激发激光器，让激光器开始发射激光，激光通过半透镜产生反射光和透过光，反射光射向样品室，并最终由第一光探针、第二光探针分别收集反射光信号、透过光信号，光信号传递至信号收集装置并产生波形曲线，通过计算参考光与样品光的比值来判断样品透射率的变化，即实现了通过原位检测冲击压力下物体透射率的变化来确定物体是否发生相变，对于固体、液体，甚至是气体都适用，具有非常高的实用价值。
专利类型：	发明专利
国家地区组织代码：	四川;51
申请人：	西南交通大学
发明人：	任月虹;陈建勇;吴浪;汪贻高;范茁宁;孙燕云;刘福生;张明建
专利状态：	有效
申请日期：	2019-06-21T00:00:00+0800
发布日期：	2019-09-10T00:00:00+0800
申请号：	CN201910540322.8
公开号：	CN110220775A
代理机构：	成都华飞知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人：	杜群芳
分类号：	G01N3/06(2006.01);G;G01;G01N;G01N3
申请人地址：	610031 四川省成都市二环路北一段111号
主权项：	1.一种基于轻气炮冲击加载下样品透射率的测量装置，其特征在于，包括轻气炮、真空仓和信号收集装置，所述真空仓内设置有固定靶，所述固定靶包括基板、探针固定机构、前窗口、后窗口、样品室、半透镜、激光器、第一光探针、第二光探针、以及两个第一电探针、两个第二电探针，所述轻气炮用于向固定靶的基板左侧发射飞片，所述基板为导电基板，所述探针固定机构设置在基板的右侧，探针固定机构和基板之间设有间隙，所述第一电探针、第二电探针的左端分别穿过探针固定机构与间隙连接，且第一电探针与第一电源构成回路，第二电探针与第二电源、激光器构成回路，所述前窗口、样品室、后窗口从左向右依次设置在探针固定机构内，所述探针固定机构的右端设置有光室，所述半透镜设置在光室内，所述激光器发射的光线射向半透镜，并产生反射光和透过光，所述反射光依次穿过后窗口、样品室、前窗口，所述第一光探针用于收集反射光信号，所述第二光探针用于收集透过光信号，所述信号收集装置分别与第一电源、第一光探针、第二光探针连接。 2.根据权利要求1所述的一种基于轻气炮冲击加载下样品透射率的测量装置，其特征在于，所述基板、探针固定机构分别为不透光材质。 3.根据权利要求2所述的一种基于轻气炮冲击加载下样品透射率的测量装置，其特征在于，所述基板、探针固定机构分别为铝材圆柱形结构。 4.根据权利要求1所述的一种基于轻气炮冲击加载下样品透射率的测量装置，其特征在于，所述探针固定机构的右端具有反光层。 5.根据权利要求1所述的一种基于轻气炮冲击加载下样品透射率的测量装置，其特征在于，所述样品室的侧壁上分别设置有进口管和出口管，所述进口管和出口管分别穿过探针固定机构与样品室连通。 6.根据权利要求1所述的一种基于轻气炮冲击加载下样品透射率的测量装置，其特征在于，所述第一电探针、第二电探针的左端端点位于同一水平面。 7.根据权利要求6所述的一种基于轻气炮冲击加载下样品透射率的测量装置，其特征在于，所述第一电探针以探针固定机构中轴线对称设置，所述第二电探针以探针固定机构中轴线对称设置。 8.根据权利要求6所述的一种基于轻气炮冲击加载下样品透射率的测量装置，其特征在于，所述第一电探针分别设置在探针固定机构的0°和180°位置上，所述第二电探针分别设置在探针固定机构的90°和270°位置上。 9.根据权利要求1所述的一种基于轻气炮冲击加载下样品透射率的测量装置，其特征在于，所述第一光探针、第二光探针分别通过瞬态高温计与信号收集装置连接。 10.根据权利要求1所述的一种基于轻气炮冲击加载下样品透射率的测量装置，其特征在于，所述信号收集装置包括示波器。
所属类别：	发明专利