专利名称: |
水分含量传感器及衣物干燥装置 |
摘要: |
水分含量传感器(1)向对象物(2)发光,基于来自该对象物(2)的反射光来检测对象物(2)的水分含量,具备:发光部(20),其向对象物(2)一边扫描一边发出检测光和参照光,检测光包含被水吸收度大于规定值的第一波长带,参照光包含被水吸收度在规定值以下的第二波长带;第一受光部(33),其接受由对象物(2)反射的检测光,并转换为第一电信号;第二受光部(43),其接受由对象物(2)反射的参照光,并转换为第二电信号;运算处理部(56),其计算第一电信号和第二电信号的信号比;以及光源控制部(51),其在发光部(20)发出的检测光和参照光的扫描范围(A)中,基于信号比,控制信号比的多个检测位置(P)的分布。 |
专利类型: |
发明专利 |
国家地区组织代码: |
日本;JP |
申请人: |
松下知识产权经营株式会社 |
发明人: |
马场徹 |
专利状态: |
有效 |
申请日期: |
2018-02-15T00:00:00+0800 |
发布日期: |
2019-08-23T00:00:00+0800 |
申请号: |
CN201880005810.2 |
公开号: |
CN110168349A |
代理机构: |
永新专利商标代理有限公司 |
代理人: |
蒋巍 |
分类号: |
G01N21/3554(2006.01);G;G01;G01N;G01N21 |
申请人地址: |
日本大阪府 |
主权项: |
1.一种水分含量传感器,其向对象物发光,并基于来自该对象物的反射光来检测所述对象物的水分含量,其中,具备: 发光部,其向所述对象物一边扫描一边发出检测光和参照光,所述检测光包含被水吸收度大于规定值的第一波长带,所述参照光包含被水吸收度在所述规定值以下的第二波长带; 第一受光部,其接受由所述对象物反射的所述检测光,并转换为第一电信号; 第二受光部,其接受由所述对象物反射的所述参照光,并转换为第二电信号; 运算处理部,其计算所述第一电信号和所述第二电信号的信号比;以及 光源控制部,其在所述发光部发出的所述检测光和所述参照光的扫描范围中,基于所述信号比,控制所述信号比的多个检测位置的分布。 2.如权利要求1所述的水分含量传感器,其中, 所述光源控制部在所述扫描范围中,在所述分布的控制中,控制所述信号比的多个检测位置的间距和在所述检测位置处的检测范围的大小中的至少一个。 3.如权利要求2所述的水分含量传感器,其中, 所述光源控制部基于所述扫描范围中的所述多个检测位置处的信号比和该多个检测位置处的所述第二电信号的经时变化,控制所述分布。 4.如权利要求2或3所述的水分含量传感器,其中, 所述发光部具备光源和透镜, 所述光源控制部通过控制所述光源与所述透镜的间隔,进行所述检测范围的大小的控制。 5.如权利要求2或3所述的水分含量传感器,其中, 所述发光部具备光源和多个透镜, 所述光源控制部通过控制所述多个透镜,进行所述检测范围的大小的控制。 6.如权利要求4或5所述的水分含量传感器,其中, 所述光源放射包含构成所述检测光的波长带和构成所述参照光的波长带的连续波长的光, 所述光源控制部使所述光源以规定的发光周期发光, 所述水分含量传感器,具备: 第一信号处理部,其对所述第一受光部的所述第一电信号进行处理,并输出至所述运算处理部;以及 第二信号处理部,其对所述第二受光部的所述第二电信号进行处理,并输出至所述运算处理部, 所述第一信号处理部对所述第一电信号进行通带限制并且校正由该通带限制引起的相位延迟,然后实施与所述发光周期的相乘处理, 所述第二信号处理部对所述第二电信号进行通带限制并且校正由该通带限制引起的相位延迟,然后实施与所述发光周期的相乘处理。 7.如权利要求2~6中任一项所述的水分含量传感器,其中, 所述光源控制部通过控制所述检测位置的间距,进行所述分布的控制。 8.如权利要求2~6中任一项所述的水分含量传感器,其中, 所述光源控制部通过将所述多个检测位置按每规定数量进行分组,并控制各组中的所述检测位置的规定数量,进行所述分布的控制。 9.如权利要求1~8中任一项所述的水分含量传感器,其中, 所述运算处理部计算所述第一电信号和所述第二电信号的信号比,并基于该信号比,计算所述对象物的干燥度作为所述水分含量。 10.一种衣物干燥装置,其中,具备: 权利要求1~9中任一项所述的水分含量传感器;以及 干燥控制部,其基于由所述水分含量传感器检测出的所述水分含量控制干燥条件。 |
所属类别: |
发明专利 |