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原文传递一种修补质量评价方法

专利名称：	一种修补质量评价方法
摘要：	本发明涉及检测领域，特别是一种修补质量评价方法。这种修补质量评价方法用于检测复合材料阶梯式挖补修理区域的修理质量，采用对比试块，对比试块上设有人工缺陷；阶梯式挖补修理区域为待检测区；该修补质量评价方法，包括以下步骤：S1：对对比试块上的人工缺陷进行超声检测，调整检测灵敏度，得到基准波形；S2：在该灵敏度下，对待检测区进行超声检测，得到实测波形，并对比实测波形和基准波形中，缺陷回波出现的时间和波幅。本发明提供的修补质量评价方法在每一次进行待检测域的检测前，进行灵敏度的调整，从而能够消除人为因素的不利影响，得到较为准确的检测结果。
专利类型：	发明专利
国家地区组织代码：	四川;51
申请人：	漆松林
发明人：	漆松林;陶楚雍;郭青;王文娟;陈永桢;王旭
专利状态：	有效
申请日期：	2018-02-26T00:00:00+0800
发布日期：	2019-09-03T00:00:00+0800
申请号：	CN201810162980.3
公开号：	CN110196278A
代理机构：	四川力久律师事务所
代理人：	熊晓果;刘童笛
分类号：	G01N29/04(2006.01);G;G01;G01N;G01N29
申请人地址：	610091 四川省成都市青羊区黄田坝经五路57号843栋3楼10号
主权项：	1.一种修补质量评价方法，用于评价复合材料阶梯式挖补修理区域的修理质量，其特征在于，采用对比试块，所述对比试块上设有人工缺陷；所述阶梯式挖补修理区域为待检测区；该修补质量评价方法，包括以下步骤： S1：对对比试块上的人工缺陷进行超声检测，调整检测灵敏度，得到基准波形； S2：在该灵敏度下，对待检测区进行超声检测，得到实测波形，并对比实测波形和基准波形中，缺陷回波出现的时间和波幅。 2.根据权利要求1所述的修补质量评价方法，其特征在于，所述待检测区上设有未修补区、铺层区和胶膜，所述铺层区包括嵌设于未修补区中的至少一个铺层，胶膜设于铺层区与未修补区之间；所述对比试块包括未修补区、铺层区和胶膜，所述对比试块中的铺层区与待检测区中的铺层区的结构相同，所述对比试块中的胶膜与所述待检测区中的胶膜结构相同，所述对比试块的铺层区嵌设于未修补区中。 3.根据权利要求2所述的修补质量评价方法，其特征在于，铺层区中包括至少两个铺层，所述铺层呈阶梯状分布；所述对比试块上设有至少两个人工缺陷，其中一个设于一个铺层，另一个设于另一个铺层；所述待检测区上具有至少两个检测域，一个所述检测域与一个人工缺陷对应；在所述步骤S2中，对待检测区进行超声检测包括：对待检测区上与步骤S1中的人工缺陷对应检测域进行超声检测。 4.根据权利要求3所述的修补质量评价方法，其特征在于，还包括以下步骤： S3.在与步骤S1中的人工缺陷对应的检测域中选择多个检测点，在同一灵敏度下，在同一检测域中的各个检测点上重复进行步骤S2。 5.根据权利要求3所述的修补质量评价方法，其特征在于，所述未修补区中设有人工缺陷，所述未修补区中的人工缺陷与所述胶膜相邻，所述铺层区中设有人工缺陷；相邻两个铺层上未重叠的区域为错层区；在所述修补质量评价方法中：若步骤S1的检测对象为未修补区中的人工缺陷，则步骤S3中的各个检测点对应于待检测区上的错层区；若步骤S1的检测对象为铺层中的人工缺陷，则步骤S3中的各个检测点对应于待检测区上的铺层。 6.根据权利要求1所述的修补质量评价方法，其特征在于，人工缺陷的尺寸设置为，设计标准中能够接受的最小缺陷的尺寸；所述对比实测波形中的缺陷回波和基准波形中，缺陷回波出现的时间和波幅，包括：若实测波形中的缺陷回波的波幅大于或等于基准波形中的缺陷回波的波幅，且实测波形中缺陷回波出现的时间与基准波形中缺陷回波出现的时间一致，则待检测区中与人工缺陷对应的深度处存在不可接受的缺陷。 7.根据权利要求1-6中任意一项所述的修补质量评价方法，其特征在于，所述人工缺陷由高超声衰减材料制成。 8.根据权利要求1-6中任意一项所述的修补质量评价方法，其特征在于，人工缺陷由预埋于对比试块中的，具有脱模剂涂层的金属生成。 9.根据权利要求1-6中任意一项所述的修补质量评价方法，其特征在于，所述步骤S1和所述步骤S2中，所采用的检测频率为1.0MHz-20MHz。
所属类别：	发明专利