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一种管子内部轴向缺陷快速检测的方法
| 专利名称： | 一种管子内部轴向缺陷快速检测的方法 |
| 摘要： | 本发明涉及一种管子内部轴向缺陷快速检测的方法，其特征在于，包括：选用晶片呈线性排列的一维阵列环形柔性探头作为相控阵超声波检测仪探头；将所述相控阵超声波检测仪的扫查方式设置为横波扇性扫查、纵波线性扫查、纵波扇性扫查中的任意一种或组合；将所述一维阵列环形柔性探头套装于管子上与之贴合，沿管子轴向推进所述一维阵列环形柔性探头，对管子内部缺陷进行整体检测。本发明能够对受热面小径管内部轴向缺陷进行快速、准确检测。 |
| 专利类型： | 发明专利 |
| 国家地区组织代码： | 北京;11 |
| 申请人： | 中国大唐集团科学技术研究院有限公司火力发电技术研究院 |
| 发明人： | 刘长福;张新;郭德瑞;刘永超;陈鑫;高大伟;张坤;李晶 |
| 专利状态： | 有效 |
| 申请日期： | 2019-04-26T00:00:00+0800 |
| 发布日期： | 2019-09-06T00:00:00+0800 |
| 申请号： | CN201910342661.5 |
| 公开号： | CN110208388A |
| 代理机构： | 北京中南长风知识产权代理事务所(普通合伙) |
| 代理人： | 周倩 |
| 分类号： | G01N29/24(2006.01);G;G01;G01N;G01N29 |
| 申请人地址： | 100043 北京市石景山区玉泉西里二区18号楼西区 |
| 主权项： | 1.一种管子内部轴向缺陷快速检测的方法，其特征在于，包括： 选用晶片呈线性排列的一维阵列环形柔性探头作为相控阵超声波检测仪探头； 将所述相控阵超声波检测仪的扫查方式设置为横波扇性扫查、纵波线性扫查、纵波扇性扫查中的任意一种或组合； 将所述一维阵列环形柔性探头套装于管子上与之贴合，沿管子轴向推进所述一维阵列环形柔性探头，对管子内部缺陷进行整体检测。 2.根据权利要求1所述的管子内部轴向缺陷快速检测的方法，其特征在于，所述横波扇性扫查方式中相控阵法则的设置方法为： 将横波入射声束与管子内壁相切时角度设为β，根据管子规格设置相控阵法则，使最小入射角度不大于β，最大入射角度不大于75°，并将焦点设置在声束与管子内壁相切点处。 3.根据权利要求1所述的管子内部轴向缺陷快速检测的方法，其特征在于，所述纵波线性扫查方式中相控阵法则的设置方法为： 将纵波入射声束与管子内壁相切时角度设为β，根据管子规格设置相控阵法则，使最小入射角度不大于β，并将焦点设置在声束与管子内壁相切点处。 4.根据权利要求1所述的管子内部轴向缺陷快速检测的方法，其特征在于，所述纵波扇性扫查方式中相控阵法则的设置方法为： 将纵波入射声束与管子内壁相切时角度设为β，根据管子规格设置相控阵法则，使最大入射角度不大于β，并将焦点设置在声束与管子内壁相切点处。 5.根据权利要求1至4任一项所述的管子内部轴向缺陷快速检测的方法，其特征在于，所述一维阵列环形柔性探头可激发晶片数量不少于64个，同时激发晶片数量不少于16个。 |
| 所属类别： | 发明专利 |
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