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原文传递一种高熔点材料雾化粒径分布及雾化率的测量方法及装置

专利名称：	一种高熔点材料雾化粒径分布及雾化率的测量方法及装置
摘要：	本发明提供一种高熔点材料雾化粒径分布及雾化率的测量方法及装置，包括密封容器、密封坩埚、加热装置、收集皿和管道调节装置；所述密封坩埚和加热装置设置在密封容器内，且加热装置设置在密封坩埚的周围，所述收集皿与密封坩埚的下部相连；所述管道调节装置包括主管道、与主管道相连的第一支管道核第二支管道、设置在密封容器上的充气孔和排气孔；所述第一支管道与密闭容器相通，所述第二支气管道与密封坩埚相通，所述主管道上安装有气体流量计，所述第二支气管道上安装有压力；本发明采集雾化场中所有的液滴并冷却成固体颗粒，成功解决了现有方法及装置分辨率不足，且不能测量雾化场总体的粒径分布以及雾化率的问题。
专利类型：	发明专利
国家地区组织代码：	黑龙江;23
申请人：	哈尔滨工程大学
发明人：	张智刚;马瑶龙;王赟
专利状态：	有效
申请日期：	2019-05-28T00:00:00+0800
发布日期：	2019-09-06T00:00:00+0800
申请号：	CN201910452067.1
公开号：	CN110208150A
分类号：	G01N15/02(2006.01);G;G01;G01N;G01N15
申请人地址：	150001 黑龙江省哈尔滨市南岗区南通大街145号哈尔滨工程大学科技处知识产权办公室
主权项：	1.一种高熔点材料雾化粒径分布及雾化率的测量装置，其特征是，包括密封容器、密封坩埚、加热装置、收集皿和管道调节装置；所述密封坩埚和加热装置设置在密封容器内，且加热装置设置在密封坩埚的周围，所述收集皿与密封坩埚的下部相连；所述管道调节装置包括主管道、与主管道相连的第一支管道核第二支管道、设置在密封容器上的充气孔和排气孔；所述第一支管道与密闭容器相通，所述第二支气管道与密封坩埚相通，所述主管道上安装有气体流量计，所述第二支气管道上安装有压力。 2.根据权利要求1所述的高熔点材料雾化粒径分布及雾化率的测量装置，其特征是，所述密封容器充满了惰性气体。 3.根据权利要求1或2所述的高熔点材料雾化粒径分布及雾化率的测量装置，其特征是，所述收集皿装有有机冷却剂。 4.根据权利要求1或2所述的高熔点材料雾化粒径分布及雾化率的测量装置，其特征是，所述收集皿的高度可调。 5.根据权利要求3所述的高熔点材料雾化粒径分布及雾化率的测量装置，其特征是，所述收集皿的高度可调。 6.一种高熔点材料雾化粒径分布及雾化率的测量方法，其特征是，将喷雾液滴先固化再测量，包括如下步骤：步骤一：在高压惰性气体挤压的条件下，加热至熔融状态的高熔点材料通过喷嘴发生喷雾和射流，落入装有有机冷却剂的收集皿中，喷雾和射流会冷却并凝固成颗粒和块状固体；步骤二：将收集到的固体颗粒和块状固体分离，并分别称量出质量m1和m2，将其代入雾化率公式w＝m1/(m1+m2)，即得到熔点材料雾化的雾化率w；步骤三：将固体颗粒根据粒径大小分组并称量每组的质量，之后带入公式wn＝mn/m1得到固体颗粒的粒径分布，其中n代表第n组，mn代表第n组的颗粒质量，m1代表收集到的颗粒质量；步骤四：根据关系式得到喷雾液滴的粒径分组范围及每组的质量份额，即高熔点材料的雾化粒径分布；其中ρ1为固体颗粒的密度，即高熔点材料常温下的密度；ρ0为喷雾液滴的密度，即高熔点材料被加热到熔融状态时的密度，R1为固体颗粒的粒径、R0为喷雾液滴的粒径。 7.根据权利要求6所述的所述高熔点材料雾化粒径分布及雾化率的测量方法，其特征是，所述高熔点材料包括铁及其合金、铝及其合金、锂及其合金、钠及其合金、钾及其合金、金属氧化物或碳化物。 8.根据权利要求6或7所述的所述高熔点材料雾化粒径分布及雾化率的测量方法，其特征是，所述有机冷却剂为液体石蜡或煤油。 9.根据权利要求6或7所述的所述高熔点材料雾化粒径分布及雾化率的测量方法，其特征是，所述固体颗粒根据粒径大小分组采用筛分法为主，显微图像法为辅的方法：利用按照筛孔尺寸依次组合的试验筛，借助震动把固体颗粒筛分成不同的筛分粒级，称量每个筛上和底盘上的颗粒量，计算出每个筛分粒级的百分含量；对于无法用筛分法测量的极少量微小颗粒，采用显微图像法，将样品成像后经过图像分析进行测定。 10.根据权利要求8所述的所述高熔点材料雾化粒径分布及雾化率的测量方法，其特征是，所述固体颗粒根据粒径大小分组采用筛分法为主，显微图像法为辅的方法：利用按照筛孔尺寸依次组合的试验筛，借助震动把固体颗粒筛分成不同的筛分粒级，称量每个筛上和底盘上的颗粒量，计算出每个筛分粒级的百分含量；对于无法用筛分法测量的极少量微小颗粒，采用显微图像法，将样品成像后经过图像分析进行测定。
所属类别：	发明专利