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原文传递基于时间域频率域压制杂散光的太赫兹拉曼光谱检测方法

专利名称：	基于时间域频率域压制杂散光的太赫兹拉曼光谱检测方法
摘要：	本发明涉及光谱检测技术领域，提供一种基于时间域和频率域压制杂散光的太赫兹拉曼光谱检测方法，包括：步骤1，运行太赫兹拉曼光谱系统，利用激发光源产生的激光与样品相互作用激发产生散射光，并收集部分散射光；步骤2，滤除散射光中与激发激光相同频率的瑞利散射成分，保留与激发激光不同频率的太赫兹拉曼散射成分；步骤3，探测滤除瑞利杂散光后的散射光，并基于门开关技术压制散射光信号的时域噪声；步骤4，将散射光信号进行分光，并探测分光后的散射光信号，得到能够同时探测斯托克斯光谱线和反斯托克斯光谱线的高信噪比太赫兹拉曼光谱。本发明分别从时间域和频率域压制杂散光，得到可用的高信噪比太赫兹拉曼光谱。
专利类型：	发明专利
国家地区组织代码：	辽宁;21
申请人：	大连理工大学
发明人：	丁洪斌;赵亚锐;冯春雷;石劼霖;吴鼎
专利状态：	有效
申请日期：	2019-04-08T00:00:00+0800
发布日期：	2019-09-06T00:00:00+0800
申请号：	CN201910274695.5
公开号：	CN110208239A
代理机构：	大连星海专利事务所有限公司
代理人：	裴毓英
分类号：	G01N21/65(2006.01);G;G01;G01N;G01N21
申请人地址：	116024 辽宁省大连市甘井子区凌工路2号
主权项：	1.一种基于时间域频率域压制杂散光的太赫兹拉曼光谱检测方法，其特征在于，包括以下步骤：步骤1，运行太赫兹拉曼光谱系统，利用激发光源产生的激光与样品相互作用激发产生散射光，并收集部分散射光；步骤2，滤除散射光中与激发激光相同频率的瑞利散射成分，保留与激发激光不同频率的太赫兹拉曼散射成分；步骤3，探测滤除瑞利杂散光后的散射光，并基于门开关技术压制散射光信号的时域噪声；步骤4，将散射光信号进行分光，并探测分光后的散射光信号，得到能够同时探测斯托克斯光谱线和反斯托克斯光谱线的高信噪比太赫兹拉曼光谱。 2.根据权利要求1所述的基于时间域频率域压制杂散光的太赫兹拉曼光谱检测方法，其特征在于，在步骤2中，利用陷波滤波片滤除散射光中与激发激光相同频率的瑞利散射成分。 3.根据权利要求1所述的基于时间域频率域压制杂散光的太赫兹拉曼光谱检测方法，其特征在于，步骤3中，通过装配电子快门的探测器探测滤除瑞利杂散光后的散射光。 4.根据权利要求3所述的基于时间域频率域压制杂散光的太赫兹拉曼光谱检测方法，其特征在于，步骤3中，基于门开关技术压制散射光信号的时域噪声，包括以下过程：通过调节延时发生器参数，使太赫兹拉曼光谱系统中的电子快门以预设延时与纳秒脉冲激光同频率工作，调节电子快门的开启时间，使电子快门仅探测散射光信号，实现屏蔽时域噪声。 5.根据权利要求1所述的基于时间域频率域压制杂散光的太赫兹拉曼光谱检测方法，其特征在于，步骤4中，利用探测器收集散射光信号，利用单色仪将散射光信号进行分光。 6.根据权利要求1所述的基于时间域频率域压制杂散光的太赫兹拉曼光谱检测方法，其特征在于，步骤1中采用的激发光源采用中心波长为532nm的纳秒激光，脉冲宽度为8ns,谱线宽度不大于2cm-1。 7.根据权利要求2所述的基于时间域频率域压制杂散光的太赫兹拉曼光谱检测方法，其特征在于，所述陷波滤波片的中心波长为532nm，带宽为5cm-1。
所属类别：	发明专利