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原文传递绝缘子老化程度的评估方法

专利名称：	绝缘子老化程度的评估方法
摘要：	本发明提供了一种绝缘子老化程度的评估方法，包括以下步骤：从所述绝缘子上选取多个待测采样点；获取所述绝缘子于所述待测采样点处在太赫兹波透射模式下的多个频率点下的实际吸收系数；以及将所述待测采样点的实际吸收系数与标准吸收系数作比较，从而确定所述绝缘子的老化程度。本发明提供的所述绝缘子老化程度的评估方法操作简单，测试结果准确。
专利类型：	发明专利
国家地区组织代码：	广东;44
申请人：	清华大学深圳研究生院
发明人：	梅红伟;李岚欣;王黎明
专利状态：	有效
申请日期：	2019-05-07T00:00:00+0800
发布日期：	2019-09-20T00:00:00+0800
申请号：	CN201910375609.X
公开号：	CN110261343A
代理机构：	深圳市鼎言知识产权代理有限公司
代理人：	曾昭毅;郑海威
分类号：	G01N21/3586(2014.01);G;G01;G01N;G01N21
申请人地址：	518055 广东省深圳市南山区西丽大学城清华校区
主权项：	1.一种绝缘子老化程度的评估方法，其特征在于，包括以下步骤：从所述绝缘子上选取多个待测采样点；获取所述绝缘子于所述待测采样点处在太赫兹波透射模式下的多个频率点下的实际吸收系数；以及将所述待测采样点的实际吸收系数与标准吸收系数作比较，从而确定所述绝缘子的老化程度。 2.如权利要求1所述的绝缘子老化程度的评估方法，其特征在于，所述绝缘子包括一芯棒以及一护套，所述护套包覆所述芯棒，所述护套包括一套体以及自所述套体向远离所述芯棒的方向延伸形成的多个延伸部，所述待测采样点选自所述套体的外表面以及所述延伸部的外表面。 3.如权利要求2所述的绝缘子老化程度的评估方法，其特征在于，所述标准吸收系数为对至少一标准采样点在太赫兹波透射模式下的多个频率点下进行测试得到，每一标准采样点选自所述套体中部且距离所述套体的外表面大于一预定距离的位置。 4.如权利要求3所述的绝缘子老化程度的评估方法，其特征在于，当所述标准采样点的数量为一个时，所述标准采样点在多个频率点下的吸收系数为所述标准吸收系数。 5.如权利要求3所述的绝缘子老化程度的评估方法，其特征在于，当所述标准采样点的数量为多个时，所述标准采样点沿所述套体的圆周方向选取，通过计算所述标准采样点在每一频率点下的吸收系数的平均值得到所述标准采样点在所述多个频率点下的吸收系数，从而得到所述标准吸收系数。 6.如权利要求1所述的绝缘子老化程度的评估方法，其特征在于，所述待测采样点的厚度不超过1毫米。 7.如权利要求1所述的绝缘子老化程度的评估方法，其特征在于，将所述待测采样点的实际吸收系数与所述标准吸收系数作比较包括：将在每一频率点处的所述标准吸收系数与所述待测采样点的实际吸收系数做差再取平方和，得到一差异值；以及结合所有所述待测采样点对应的所述差异值确定所述绝缘子于不同位置的老化程度。 8.如权利要求1所述的绝缘子老化程度的评估方法，其特征在于，将所述待测采样点的实际吸收系数与所述标准吸收系数作比较包括：将在每一频率点处的所述标准吸收系数与所述待测采样点的实际吸收系数做差再取平方和，得到一差异值；以及计算所有所述待测采样点对应的所述差异值的平均值，并根据所述平均值确定所述绝缘子整体的老化程度。
所属类别：	发明专利