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原文传递一种总氮测定仪

专利名称：	一种总氮测定仪
摘要：	本实用新型公开了一种总氮测定仪，包括光源组件、滤光片组、比色池以及光电处理部，所述光源组件包括光源灯，所述光源灯发射的光线经光源组件处理后得到一束平行光，作为测试分析用的光源；所述滤光片组中包括若干个窄带干涉滤光片，通过使所述滤光片组发生位移以将特定的窄带干涉滤光片对准所述一束平行光，所述一束平行光通过滤光片组中特定的窄带干涉滤光片后，得到特定波长的紫外光。本实用新型的有益效果：光路系统性能稳定，不受使用条件和环境等外因干扰；本实用新型结构设计的特点能保证光学精度性能、提高波长及相关参数稳定性的同时，降低了生产技术难度和成本，适合大规模量产和推广。
专利类型：	实用新型
国家地区组织代码：	北京;11
申请人：	北京连华永兴科技发展有限公司
发明人：	不公告发明人
专利状态：	有效
申请日期：	2018-12-13T00:00:00+0800
发布日期：	2019-09-20T00:00:00+0800
申请号：	CN201822086788.9
公开号：	CN209416909U
代理机构：	北京纽乐康知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人：	田磊
分类号：	G01N21/33(2006.01);G;G01;G01N;G01N21
申请人地址：	101102 北京市通州区中关村科技园区通州园金桥科技产业基地景盛南四街15号95号楼
主权项：	1.一种总氮测定仪，其特征在于，包括：光源组件（1），其发出一束平行光；滤光片组（2），其与所述一束平行光垂直，所述滤光片组（2）中包括若干个窄带干涉滤光片（10），通过使所述滤光片组（2）发生位移将特定的窄带干涉滤光片（10）对准所述一束平行光，所述一束平行光通过滤光片组中特定的窄带干涉滤光片（10）后，得到特定波长的紫外光；比色池（3），其置于所述滤光片组（2）后方或置于所述光源组件（1）与所述滤光片组（2）之间；和光电处理部（4），其置于滤光片组（2）以及比色池（3）的后方，光电处理部（4）接收经过滤光片组（2）滤波以及比色池（3）吸收所获得的紫外光并进行处理，然后发送给主控系统。 2.根据权利要求1所述的一种总氮测定仪，其特征在于，所述比色池（3）后设置有半透半反镜（9），所述光源组件（1）发出的一束平行光穿过所述比色池（3）后经所述半透半反镜（9）处理，形成两束光，并分别垂直通过两个相互独立的窄带干涉滤光片（10）后被对应的两组光电处理部（4）接收。 3.根据权利要求1或权利要求2所述的一种总氮测定仪，其特征在于，所述光源组件（1）包括光源灯（5），光源灯（5）采用含紫外连续光谱的氘灯、氙灯、复合元素灯。 4.根据权利要求3所述的一种总氮测定仪，其特征在于，所述光源组件（1）还包括双凸透镜，光源灯（5）置于所述双凸透镜焦平面上，以将光源灯发射的光线进行准直，变为平行光。 5.根据权利要求3所述的一种总氮测定仪，其特征在于，所述光源组件（1）选用对应曲率的双凸透镜，将光源灯（5）聚焦到狭缝上，同时再用相应规格的双凸透镜做为准直镜（7），狭缝处于准直镜（7）焦平面上，将光源灯（5）发射的光线进行准直，变为平行光。 6.根据权利要求3所述的一种总氮测定仪，其特征在于，所述光源组件（1）采用将光源灯（5）置于平凹反射镜（8）曲率半径上，通过调节平凹反射镜（8）旋转角度，使光线通过狭缝（6），狭缝（6）位于平凹反射镜（8）焦点上，同时再用相应规格的双凸透镜做为准直镜（7），狭缝（6）处于准直镜（7）焦平面上，将光源灯（5）发射的光线进行准直，变为平行光。 7.根据权利要求1所述的一种总氮测定仪，其特征在于，所述窄带干涉滤光片（10）的中心波长误差小于1nm，光谱半宽小于2nm。 8.根据权利要求1所述的一种总氮测定仪，其特征在于，所述滤光片组（2）为旋转结构，若干个所述窄带干涉滤光片（10）沿周向分布在所述滤光片组（2）上，所述滤光片组（2）通过旋转实现切换窄带干涉滤光片（10）。 9.根据权利要求1所述的一种总氮测定仪，其特征在于，所述滤光片组（2）为滑动结构，若干个所述窄带干涉滤光片（10）沿滑动方向分布在所述滤光片组（2）上，所述滤光片组（2）通过滑动实现切换窄带干涉滤光片（10）。
所属类别：	实用新型