专利名称: |
光学颗粒传感器和感测方法 |
摘要: |
一种光学颗粒传感器,包括用于顺序操作的不同波长的至少第一光源和第二光源。光学检测器用于检测来自光源的、由待感测颗粒发出或散射的光。还提供了电流注入补偿信号,该电流注入补偿信号取决于光学装置的哪个光源在使用中。补偿信号意味着放大器不需要响应于与不同光源相关联的不同背景照明水平而重新稳定。以这种方式,可以从不同光源快速连续地获得检测信号。 |
专利类型: |
发明专利 |
国家地区组织代码: |
荷兰;NL |
申请人: |
皇家飞利浦有限公司 |
发明人: |
P·范德斯卢斯 |
专利状态: |
有效 |
申请日期: |
2018-01-31T00:00:00+0800 |
发布日期: |
2019-09-20T00:00:00+0800 |
申请号: |
CN201880010957.0 |
公开号: |
CN110268246A |
代理机构: |
北京市金杜律师事务所 |
代理人: |
王茂华;苏耿辉 |
分类号: |
G01N15/14(2006.01);G;G01;G01N;G01N15 |
申请人地址: |
荷兰艾恩德霍芬市 |
主权项: |
1.一种光学颗粒传感器,包括: 光学装置(14),包括用于顺序操作的不同波长的至少第一光源和第二光源; 光学检测器(40),用于检测从待感测颗粒发出的光、或来自所述光源的被待感测颗粒散射的光,以及用于产生检测电流; 放大器电路(44、46),用于放大从所述光学检测器输出的所述检测电流; 补偿电路(50),用于将电流注入补偿信号提供给所述放大器电路,所述电流注入补偿信号与所述检测电流相组合;以及 控制器(24),其中所述控制器适于提供电流注入补偿信号,所述电流注入补偿信号取决于所述光学装置的哪个光源在使用中。 2.根据权利要求1所述的传感器,其中所述补偿电路(50)包括用于控制电流注入的水平的电压源(53)。 3.根据权利要求2所述的传感器,其中所述补偿电路(50)包括延迟电路(54),用于将来自所述电压源的所述电压耦合到所述放大器电路,以及用于产生所述电流注入补偿信号。 4.根据权利要求3所述的传感器,其中所述延迟电路(54)包括低通滤波器,其中所述电流注入补偿信号从所述低通滤波器的输出被提供给所述光学检测器的输出。 5.根据任一前述权利要求所述的传感器,其中所述光学装置(14)包括红外光源和紫外光源,以及可选地还包括可见光光源。 6.根据任一前述权利要求所述的传感器,其中所述放大器电路(44、46)包括运算放大器(46)。 7.根据任一前述权利要求所述的传感器,其中所述控制器(24)适于控制所述光学装置(14)的所述光源的操作的定时、和所述补偿信号的随时间的推移的水平。 8.根据权利要求7所述的传感器,其中所述控制器(24)还适于在激活所述光学装置(14)的不同光源期间,基于对所述放大器输出的分析来提供对颗粒类型的标识。 9.根据任一前述权利要求所述的传感器,其中所述放大器电路(44、46)包括高通滤波器(44)。 10.一种光学颗粒感测方法,包括: 按一定顺序操作光学装置的不同波长的至少第一光源和第二光源; 检测从待感测颗粒发出的光、或来自所述光源的被待感测颗粒散射的光,由此产生检测电流; 放大所述检测电流;以及 提供电流注入补偿信号,所述电流注入补偿信号与所述检测电流相组合,以与所述检测电流一起放大,其中所述补偿信号的水平和定时取决于所述光学装置的哪个光源在使用中。 11.根据权利要求10所述的方法,其中背景信号消除包括高通滤波。 12.根据权利要求10或11所述的方法,其中所述电流注入补偿信号由控制电流注入的水平的电压产生。 13.根据权利要求12所述的方法,包括:向所述电流注入补偿信号提供延迟,所述延迟与所述光学检测器的时间响应相匹配。 14.根据权利要求10至13中任一项所述的方法,其中按一定顺序的所述操作包括:按一定顺序提供红外光输出和紫外光输出,以及可选地还提供可见光输出。 15.一种计算机程序,包括计算机代码装置,所述计算机代码装置当在计算机上运行时适于实施权利要求10至14中任一项所述的方法。 |
所属类别: |
发明专利 |