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原文传递粒子计数器

专利名称：	粒子计数器
摘要：	本发明提供一种粒子计数器，具备：检测部，利用受光元件接收散射光与参照光的干涉光，生成与所述干涉光对应的检测信号，并利用放大器进行放大；计数部，基于用于测定粒子的测定期间内的检测信号，进行所述粒子的计数；以及光路长度可变部，使第一光路与第二光路中的至少一方的光路长度以规定速度变化，基于所述流体的流速将所述规定速度设定为，通过使所述光路长度变化，减慢所述散射光与所述参照光的相位差的变化，降低所述检测信号的频率。
专利类型：	发明专利
国家地区组织代码：	日本;JP
申请人：	理音株式会社
发明人：	松田朋信;进村正树;齐藤光秋;山川雄生
专利状态：	有效
申请日期：	2019-03-07T00:00:00+0800
发布日期：	2019-09-17T00:00:00+0800
申请号：	CN201910173746.5
公开号：	CN110243729A
代理机构：	北京信慧永光知识产权代理有限责任公司
代理人：	崔迎宾;李雪春
分类号：	G01N15/02(2006.01);G;G01;G01N;G01N15
申请人地址：	日本东京都
主权项：	1.一种粒子计数器，其特征在于，所述粒子计数器具备：光源，射出光；光重叠部，将两束光在空间上重叠；照射光学系统，利用通过对来自所述光源的光进行分支而得到的多束光中的第一光照射在流道内流动的流体，由此形成检测区域；检测光学系统，使来自所述检测区域内的所述流体所含的粒子的散射光中与所述照射光学系统的光轴不同的方向的散射光向所述光重叠部入射；参照光学系统，使所述多束光中的第二光作为参照光向所述光重叠部入射；检测部，利用受光元件接收由所述光重叠部得到的所述散射光与所述参照光的干涉光，生成与所述干涉光对应的检测信号，并利用放大器进行放大；计数部，基于用于测定所述粒子的测定期间内的所述检测信号，进行所述粒子的计数；以及光路长度可变部，使所述第一光和所述散射光的光路即第一光路、与所述第二光的光路即第二光路中的至少一方的光路长度以规定速度变化，基于所述流体的流速将所述规定速度设定为，通过使所述光路长度变化，减慢所述散射光与所述参照光的相位差的变化，降低所述检测信号的频率。 2.根据权利要求1所述的粒子计数器，其特征在于，所述光路长度可变部具备：固定反射面，配置于所述第一光路或所述第二光路；以及滑块，配置有可动反射面，在所述测定期间内使所述可动反射面移动以使所述光路长度以所述规定速度变化。 3.根据权利要求2所述的粒子计数器，其特征在于，所述滑块通过在所述测定期间内使所述可动反射面从基准位置移动、以及在非测定期间内使所述可动反射面返回到所述基准位置，使所述可动反射面往复运动，所述计数部在所述测定期间内进行所述粒子的计数，在所述非测定期间内不进行所述粒子的计数。 4.根据权利要求1至3中任一项所述的粒子计数器，其特征在于，还基于所述受光元件的频率特性以及所述放大器的频率特性设定所述规定速度。
所属类别：	发明专利