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原文传递一种太赫兹时域光谱仪及指甲检测系统

专利名称：	一种太赫兹时域光谱仪及指甲检测系统
摘要：	一种太赫兹时域光谱仪及指甲检测系统，太赫兹时域光谱仪包括：激光器、分束片、太赫兹辐射天线、第一抛物面镜、样品仓、第二抛物面镜、光源传输模块、太赫兹探测天线及分析模块；分束片将激光光束按预设比例分为泵浦光和探测光；太赫兹辐射天线产生太赫兹波；第一抛物面镜将太赫兹波进行第一次聚焦；样品仓将第一次聚焦后的太赫兹波透过待检测样品；第二抛物面镜对透过待检测样品的太赫兹波进行第二次聚焦；光源传输模块对探测光进行多次反射和调节光学延迟时间；太赫兹探测天线在第二次聚焦后的太赫兹波和探测光的共同作用下，产生样品电流信号；分析模块对样品电流信号进行处理、控制及采集得到待检测样品的结构参数和/或成分信息。
专利类型：	实用新型
国家地区组织代码：	广东;44
申请人：	深圳市太赫兹科技创新研究院
发明人：	杨少壮;李辰
专利状态：	有效
申请日期：	2018-12-29T00:00:00+0800
发布日期：	2019-09-17T00:00:00+0800
申请号：	CN201822279139.0
公开号：	CN209400413U
代理机构：	深圳中一专利商标事务所
代理人：	高星
分类号：	G01N21/3586(2014.01);G;G01;G01N;G01N21
申请人地址：	518102 广东省深圳市宝安区西乡宝田一路臣田工业区37栋二楼东侧
主权项：	1.一种太赫兹时域光谱仪，其特征在于，包括：激光器；设置于所述激光器的输出光路上，被配置为将所述激光光束按预设比例分为泵浦光和探测光的分束片；设置于所述分束片的透射光路上，被配置为在所述泵浦光和偏置电压的共同驱动下产生太赫兹波的太赫兹辐射天线；设置于所述太赫兹辐射天线的输出光路上，被配置为将所述太赫兹波进行第一次聚焦后输出的第一抛物面镜；设置于所述第一抛物面镜的反射光路上，被配置为使所述第一次聚焦后的太赫兹波透过待检测样品的样品仓；设置于所述样品仓的透射光路上，被配置为对透过所述待检测样品的太赫兹波进行第二次聚焦后输出的第二抛物面镜；设置于所述分束片的反射光路上，被配置为对所述探测光进行多次反射和调节光学延迟时间的光源传输模块；设置于所述第二抛物面镜的透射光路以及所述光源传输模块的反射光路上，被配置为在同时接收到所述第二次聚焦后的太赫兹波和所述探测光时，产生样品电流信号的太赫兹探测天线；以及与所述太赫兹辐射天线、所述太赫兹探测天线以及所述光源传输模块连接，被配置为向所述太赫兹辐射天线输出所述偏置电压、对所述样品电流信号进行处理、控制及采集后得到所述待检测样品的结构参数和/或成分信息的分析模块。 2.根据权利要求1所述的太赫兹时域光谱仪，其特征在于，所述激光器为飞秒激光器。 3.根据权利要求1所述的太赫兹时域光谱仪，其特征在于，所述光源传输模块包括：多个反射镜片，所述反射镜片用于对所述探测光进行反射以调节光学延迟时间。 4.根据权利要求3所述的太赫兹时域光谱仪，其特征在于，所述反射镜片为可移动反射镜片。 5.根据权利要求4所述的太赫兹时域光谱仪，其特征在于，所述分析模块与所述可移动反射镜片通过电缆进行连接，所述分析模块控制所述可移动反射镜片的移动。 6.根据权利要求1所述的太赫兹时域光谱仪，其特征在于，所述分析模块为工控机或者个人计算机。 7.根据权利要求1或者6所述的太赫兹时域光谱仪，其特征在于，所述分析模块与所述太赫兹辐射天线、所述太赫兹探测天线及所述光源传输模块通过电缆进行连接。 8.根据权利要求1所述的太赫兹时域光谱仪，其特征在于，所述太赫兹波的频率为0.1THz-10 THz。 9.根据权利要求1所述的太赫兹时域光谱仪，其特征在于，所述样品仓包括：被配置为容纳所述待检测样品的样品架。 10.一种指甲检测系统，其特征在于，包括如权利要求1-9任一项所述太赫兹时域光谱仪。
所属类别：	实用新型