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原文传递一种基于轴、径环状分层的CT扫描后处理方法

专利名称：	一种基于轴、径环状分层的CT扫描后处理方法
摘要：	本发明公开一种基于轴、径环状分层的CT扫描后处理方法，它包括以下步骤：步骤1）：对标准试样进行CT扫描获取其CT扫描图像，并得到CT值；步骤2）：将标准试样图像均分为多段短柱试样图像；步骤3）：将每段短柱试样图像均分为多层环状短柱试样图像；步骤4）：根据步骤1）中得到的CT扫描图像来获取经过步骤2）和步骤3）划分后的环状短柱试样图像CT值，然后计算试样的CT轴、径平均值；本发明能够精确地分析试样内部的不均匀性并准确确定受损范围，改善现有的CT扫描图像分析无法精细化的问题。
专利类型：	发明专利
国家地区组织代码：	湖北;42
申请人：	三峡大学
发明人：	司马艳;郭永成;李洪亚;胡鹏;王克辉;刘鑫宇
专利状态：	有效
申请日期：	2019-07-01T00:00:00+0800
发布日期：	2019-10-01T00:00:00+0800
申请号：	CN201910586551.3
公开号：	CN110297003A
代理机构：	宜昌市三峡专利事务所
代理人：	焦磊
分类号：	G01N23/046(2018.01);G;G01;G01N;G01N23
申请人地址：	443002 湖北省宜昌市西陵区大学路8号
主权项：	1.一种基于轴、径环状分层的CT扫描后处理方法，其特征在于：它包括以下步骤：步骤1)：对标准试样进行CT扫描获取其CT扫描图像，并得到CT值；步骤2)：将标准试样图像均分为多段短柱试样图像；步骤3)：将每段短柱试样图像均分为多层环状短柱试样图像；步骤4)：根据步骤1)中得到的CT扫描图像来获取经过步骤2)和步骤3)划分后的环状短柱试样图像CT值，然后计算试样的CT轴、径平均值。 2.根据权利要求1所述的一种基于轴、径环状分层的CT扫描后处理方法，其特征在于：所述步骤2)中，将标准试样图像均分为多段短柱试样图像的具体分段方法如下：对于高度为L，直径为D的圆柱体试样，可径向将其均分为I段短柱试样，并且初步令每段短柱试样高度如果n不是整数，则处理过程如下： n＝[n]，其中[n]表示不超过n的最大整数，并令I＝n；这时最终确定将每段短柱岩样高度变为h＝L/I。 3.根据权利要求1所述的一种基于轴、径环状分层的CT扫描后处理方法，其特征在于：所述步骤3)中，将每段短柱试样图像均分为多层环状短柱试样图像的具体分层方法如下：对于高度为L，直径为D的圆柱体试样，可将每段短柱试样的上表面或下表面均分为J个环状，初步令每个环状宽度为d，J＝m＝[m]，其中[m]表示不超过m的最大整数，其中r为试样划分时最内侧圆形半径；这时最终确定将每层环状宽度变为 4.根据权利要求1所述的一种基于轴、径环状分层的CT扫描后处理方法，其特征在于：所述步骤2)中，将标准试样图像均分为多段短柱试样图像的具体分段方法如下：对于高度为L，横截面边长均为D的长方体试样，可径向将其均分为I段短柱试样，并且初步令每段短柱试样高度如果n不是整数，则处理过程如下： n＝[n]，其中[n]表示不超过n的最大整数，并令I＝n；这时最终确定将每段短柱岩样高度变为h＝L/I。 5.根据权利要求1所述的一种基于轴、径环状分层的CT扫描后处理方法，其特征在于：所述步骤3)中，将每段短柱试样图像均分为多层环状短柱试样图像的具体分层方法如下：对于高度为L，横截面边长均为D的长方体试样，可将每段短柱试样的上表面或下表面均分为J个环状，初步令每个环状宽度为d，J＝m＝[m]，其中[m]表示不超过m的最大整数，其中r为试样划分时最内侧正方形边长的一半；这时最终确定将每层环状宽度变为 6.根据权利要求1所述的一种基于轴、径环状分层的CT扫描后处理方法，其特征在于：所述步骤5)中，计算试样的CT轴、径平均值具体方法如下：分别获取每个划分后的环状短柱试样图像上、下表面圆环的CT值，CTSij表示第i段、第j层环状短柱试样图像的上表面圆环外侧CT值与内侧CT值之差，CTXij表示第i段、第j层环状短柱试样图像的下表面圆环外侧CT值与内侧CT值之差；Vij表示第i段、第j层环状短柱试样图像体积，则对于其中任意一个试样存在以下计算公式：
所属类别：	发明专利