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原文传递 圆柱体模型的视电阻率的计算方法及成像设备
专利名称: 圆柱体模型的视电阻率的计算方法及成像设备
摘要: 本发明提供一种圆柱体模型的视电阻率的计算方法及成像设备。所述圆柱体模型的视电阻率的计算方法,包括标准系数的确定、根据S1中所述的标准系数确定装置系数K和测量野外实物的半径、电位差和电流强度,根据装置系数K计算视电阻率ρs三个步骤。本发明提供的圆柱体模型的视电阻率的计算方法及成像设备具有设计合理、测量方便、测量精度高的优点。
专利类型: 发明专利
国家地区组织代码: 安徽;34
申请人: 安徽国科骄辉科技有限公司
发明人: 岳明鑫;高兰;杨晓冬;周官群;吴小平
专利状态: 有效
申请日期: 2019-06-19T00:00:00+0800
发布日期: 2019-10-01T00:00:00+0800
申请号: CN201910533201.0
公开号: CN110297016A
代理机构: 深圳众邦专利代理有限公司
代理人: 王红
分类号: G01N27/04(2006.01);G;G01;G01N;G01N27
申请人地址: 230000 安徽省合肥市高新区黄山路602号合肥国家大学科技园创业孵化中心B306室
主权项: 1.一种圆柱体模型的视电阻率的计算方法,其特征在于,包括以下步骤: S1:标准系数的确定: 根据均匀无限长圆柱体上供电点所在横截面上的电位值U(θ)的大小为: 其中,I代表电流强度,单位为安培,ρ代表电阻率值,单位为欧姆米,R代表半径,单位为米,是一系列通过数值模拟计算得到的标准系数,在数值模拟的过程中,反傅里叶变换是通过拟合的方法来实现的,该标准系数与A、B供电电极的夹角θAB以及测量点与电极A之间的夹角θ有关,一次计算后可存储起来,下次利用时通过查表即可获得; S2:根据S1中所述的标准系数确定装置系数K: 当S1中的供电电极的角度不变时,对于测量电极M和N分别有: 其中,UM和UN分别代表M点和N点的电位值,θM和θN分别代表M点和N点与A之间的夹角,将以上二式相减,得到MN之间的电位差为: 重写上式得到: 那么装置系数K就为: S3:测量野外实物的半径、电位差和电流强度,根据装置系数K计算视电阻率ρs: 设野外实测的电位差和电流强度分别为U0和I0,实测半径为R0,则其对应的视电阻率ρs的计算公式为: 从而就可精准的测算出野外实物的视电阻率ρs的具体值。 2.一种圆柱体模型的视电阻率的计算方法的成像设备,,其特征在于,包括存储器、处理器及存储于所述存储器的计算机程序,该程序被所述处理器执行时实现如权利要求1所述的圆柱体模型的视电阻率的计算方法的步骤。
所属类别: 发明专利
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