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原文传递 XRF探测器及用于XRF探测器的标样校准装置

专利名称：	XRF探测器及用于XRF探测器的标样校准装置
摘要：	本实用新型公开了一种XRF探测器及用于XRF探测器的标样校准装置。标样校准装置包括：第一驱动装置，用于连接并驱动探测器本体运动；支撑盘，支撑盘设有若干个用于固定连接标准样品的样品安装结构；连接于支撑盘的第二驱动装置，用于驱动支撑盘运动；信号连接第一驱动装置与第二驱动装置的控制器，用于控制第一驱动装置与第二驱动装置的启停，以通过第一驱动装置与第二驱动装置的驱动使选定的标准样品对准探测器本体的测试位。通过该标样校准装置的使用，标准样品可以均设置在支撑盘上，第一驱动装置与第二驱动装置的驱动即可使选定的标准样品运动到测试位，无需像现有技术中逐一人工放置标准样品于测试位，可以提高校准工作的效率。
专利类型：	实用新型
国家地区组织代码：	湖南;43
申请人：	长沙开元仪器有限公司
发明人：	罗建文;李飞
专利状态：	有效
申请日期：	2019-01-21T00:00:00+0800
发布日期：	2019-10-01T00:00:00+0800
申请号：	CN201920099087.0
公开号：	CN209460170U
代理机构：	北京集佳知识产权代理有限公司
代理人：	罗满
分类号：	G01N23/223(2006.01);G;G01;G01N;G01N23
申请人地址：	410100 湖南省长沙市长沙经济技术开发区星沙产业基地(长龙街道)凉塘东路1259号研发楼101
主权项：	1.一种用于XRF探测器的标样校准装置，其特征在于，包括：第一驱动装置(19)，用于连接并驱动探测器本体(15)运动；支撑盘(8)，所述支撑盘(8)设有若干个用于固定连接标准样品(10)的样品安装结构(21)；连接于所述支撑盘(8)的第二驱动装置(16)，用于驱动所述支撑盘(8)运动；信号连接所述第一驱动装置(19)与所述第二驱动装置(16)的控制器(20)，用于控制所述第一驱动装置(19)与所述第二驱动装置(16)的启停，以通过所述第一驱动装置(19)与所述第二驱动装置(16)的驱动使选定的标准样品(10)对准探测器本体(15)的测试位。 2.根据权利要求1所述的标样校准装置，其特征在于，还包括滑块，所述滑块滑动连接于直线导轨，所述滑块上设有用于固定连接探测器本体(15)的探测器连接结构，所述第一驱动装置(19)连接于所述滑块，以驱动所述滑块在所述直线导轨上滑动。 3.根据权利要求2所述的标样校准装置，其特征在于，所述支撑盘(8)与所述直线导轨平行设置，所述第二驱动装置(16)为旋转驱动装置，所述支撑盘(8)的旋转中心位置(9)固定连接于所述第二驱动装置(16)的输出轴，所述第二驱动装置(16)的输出轴垂直于所述支撑盘(8)，以通过所述第二驱动装置(16)驱动所述支撑盘(8)转动来调节标准样品(10)与所述直线导轨的垂直距离。 4.根据权利要求3所述的标样校准装置，其特征在于，所述支撑盘(8)上设有用于检测所述样品安装结构(21)的位置的样品位置传感器(17)，所述样品位置传感器(17)信号连接于所述控制器(20)。 5.根据权利要求4所述的标样校准装置，其特征在于，所有所述样品安装结构(21)分为若干个安装结构组，每个所述安装结构组中的所有所述样品安装结构(21)沿着以所述旋转中心位置(9)为圆心的圆圈轨迹依次设置，各所述安装结构组对应的所述圆圈轨迹的半径不同，以使所有所述样品安装结构(21)以所述旋转中心位置(9)为中心呈蛛网状排布。 6.根据权利要求5所述的标样校准装置，其特征在于，所有所述样品位置传感器(17)依次设于一个以所述旋转中心位置(9)为圆心的圆圈轨迹上；周向上每个位置的所述样品安装结构(21)均对应设有所述样品位置传感器(17)。 7.根据权利要求5所述的标样校准装置，其特征在于，所述直线导轨上设有用于对探测器本体(15)在所述直线导轨的延伸方向上的位置进行定位的探测器位置传感器，所述探测器位置传感器信号连接于所述控制器(20)；所述样品安装结构(21)与所述旋转中心位置(9)的径向距离为安装距离，每个所述安装距离下的所述样品安装结构(21)均对应设有所述探测器位置传感器。 8.根据权利要求3至7任一项所述的标样校准装置，其特征在于，所述支撑盘(8)上还设有零位传感器(18)，所述零位传感器(18)信号连接于所述控制器(20)，所述控制器(20)能够根据所述零位传感器(18)的检测确定所述支撑盘(8)是否旋转一周。 9.根据权利要求3至7任一项所述的标样校准装置，其特征在于，两个所述直线导轨平行设于所述支撑盘(8)的两侧，其中一个所述直线导轨上的所述滑块用于固定连接探测器本体(15)的一端，另一个所述直线导轨上的所述滑块用于固定连接探测器本体(15)的另一端。 10.一种XRF探测器，包括探测器本体(15)和测试室，其特征在于，还包括权利要求1至9任一项所述的标样校准装置，所述标样校准装置设于所述测试室中，所述测试室上设有测试窗口(12)，以使所述探测器本体(15)通过所述测试窗口(12)对待测产品进行测试。
所属类别：	实用新型