专利名称: |
热电材料性能参数测试装置、系统及方法 |
摘要: |
本申请实施例提供一种热电材料性能参数测试装置、系统及方法,热电材料性能参数测试装置包括第一样品台、第二样品台和容置结构,其中,第一样品台和第二样品台用以承载待测试热电材料的一面为非尖锐的平台;第一样品台和第二样品台相对设置在容置结构内部;第一样品台和第二样品台用于承载和加热待测试热电材料,以及获取待测试热电材料的性能参数。本申请提供的热电材料性能参数测试装置、系统及方法,可以通过设置包括非尖锐平面的第一样品台和第二样品台对待测试热电材料进行承载及测试,以使待测试热电材料在进行性能参数测试过程中不被损坏。 |
专利类型: |
发明专利 |
国家地区组织代码: |
四川;51 |
申请人: |
西南交通大学 |
发明人: |
王勇;金鑫铮;祁晓东;杨静晖;黄婷;张楠 |
专利状态: |
有效 |
申请日期: |
2019-07-31T00:00:00+0800 |
发布日期: |
2019-10-01T00:00:00+0800 |
申请号: |
CN201910704017.8 |
公开号: |
CN110297010A |
代理机构: |
北京超凡宏宇专利代理事务所(特殊普通合伙) |
代理人: |
宋朋飞 |
分类号: |
G01N25/20(2006.01);G;G01;G01N;G01N25 |
申请人地址: |
610000 四川省成都市金牛区二环路北一段111号 |
主权项: |
1.一种热电材料性能参数测试装置,其特征在于,包括第一样品台、第二样品台和容置结构,其中,所述第一样品台和第二样品台用以承载待测试热电材料的一面为非尖锐的平台; 所述第一样品台和第二样品台相对设置在所述容置结构内部; 所述第一样品台和第二样品台用于承载和加热待测试热电材料,以及获取所述待测试热电材料的性能参数。 2.根据权利要求1所述的装置,其特征在于,所述第一样品台包括试样固定台、散热件、加热件、测温热电阻和热生电压探头; 所述试样固定台设置在所述散热件上,所述试样固定台靠近所述散热件的一侧设置有凹槽,所述试样固定台远离所述散热件的一侧设置有放置面,所述凹槽和放置面之间设置有通孔,所述测温热电阻设置在所述通孔中,所述放置面上设置有固定孔,所述热生电压探头设置在所述固定孔内,所述加热件设置在所述散热件上根据所述凹槽的投影确定的区域中; 所述放置面用于放置所述待测试热电材料,所述加热件用于将所述待测试热电材料加热到预设温度,所述测温热电阻和热生电压探头用于获取所述待测试热电材料达到所述预设温度时的性能参数,所述散热件用于在所述测温热电阻获取所述性能参数后,对所述待测试热电材料进行冷却,以使所述待测试热电材料达到进行次轮测试的温度; 其中,所述性能参数包括所述待测试热电材料在所述第一样品台和第二样品台的温差,以及所述待测试热电材料的热生电压。 3.根据权利要求1所述的装置,其特征在于,所述第一样品台和第二样品台可活动地设置在所述容置结构内部,所述第一样品台和第二样品台能够根据外部控制信号做靠近或远离对方的运动。 4.根据权利要求1所述的装置,其特征在于,所述容置结构还设置有气阀和缓冲挡板; 所述气阀设置在所述容置结构的侧壁上,所述缓冲挡板设置在所述容置结构内部与所述气阀对应的位置; 所述气阀用于将所述容置结构中的气体进行替换,以使所述容置结构内部为预设测试气氛,所述缓冲挡板用于改变所述气阀进行气体替换时产生的气流的方向和大小,以避免所述气流对所述待测试热电材料造成损伤。 5.一种热电材料性能参数测试系统,其特征在于,包括计算机设备、控制单元和权利要求1-4中任一项所述的热电材料性能参数测试装置; 所述计算机设备分别与第一样品台和第二样品台电连接,所述控制单元分别与所述第一样品台和第二样品台电连接; 所述控制单元用于控制所述第一样品台和第二样品台加热待测试热电材料的温度,所述计算机设备用于接收所述第一样品台和第二样品台获取的性能参数,并根据所述性能参数计算得出待测试热电材料的塞贝克系数。 6.根据权利要求5所述的系统,其特征在于,所述热电材料性能参数测试装置还包括信号连接器; 所述信号连接器设置在容置结构上; 所述信号连接器用于将所述第一样品台和第二样品台获取的所述性能参数传输至所述计算机设备,将所述控制单元的温度控制信号传输至所述第一样品台和第二样品台。 7.根据权利要求5所述的系统,其特征在于,所述系统还包括测试台、固定支架、温控台和测试探头; 所述计算机设备与所述测试探头电连接; 所述固定支架和温控台设置在所述测试台上,所述测试探头设置在所述固定支架上; 所述温控台用于加热所述待测试热电材料,所述固定支架用于将所述测试探头移动至预设位置,所述测试探头用于在达到所述预设位置后,获取加热后的所述待测试热电材料的电阻值,所述计算机设备用于接收所述测试探头获取的所述电阻值,并根据所述电阻值计算得出待测试热电材料的电阻率和电导率。 8.根据权利要求7所述的系统,其特征在于,所述温控台的表面经过阳极氧化处理,以防止所述测试探头获取的所述待测试热电材料的电阻值受所述温控台的电阻值影响。 9.一种热电材料性能参数测试方法,其特征在于,应用于权利要求5-8中任一项所述的热电材料性能参数测试系统,所述方法包括: 第一样品台和第二样品台将待测试热电材料加热至预设温度,并获取所述待测试热电材料在预设温度下的性能参数; 计算机设备接收所述性能参数,并根据所述性能参数计算得到所述待测试热电材料的塞贝克系数。 10.根据权利要求9所述的方法,其特征在于,所述根据所述性能参数计算得到所述待测试热电材料的塞贝克系数包括: 根据所述待测试热电材料在所述第一样品台和第二样品台的温差,以及所述待测试热电材料的热生电压获得所述待测试热电材料的原始测试数据集; 根据所述原始测试数据集以及所述原始测试数据集的权重和迭代次数,通过双平方逼近法计算获得所述待测试热电材料的塞贝克系数。 |
所属类别: |
发明专利 |