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原文传递一种点灯测试治具及其测试方法

专利名称：	一种点灯测试治具及其测试方法
摘要：	本发明提供一种点灯测试治具，所述点灯测试治具包括：基座；第一固定构件，用于固定测试面板，所述测试面板上设有柔性电路板；第二固定构件，用于固定所述柔性电路板的信号端子；测试端子；对位构件，用于对位所述测试端子以及固定在所述第二固定构件中的信号端子；测试构件，连接所述测试端子；本发明通过将测试面板的柔性电路板的信号端子固定到指定位置，利用电动装置将治具的测试端子下移，使之与柔性电路板的信号端子电连接，从而实现LCD产品的点亮，此方法可有效提高柔性电路板的信号端子的探针的扎针精度，从而提高产线作业点灯效率，且可有效改善柔性电路板反弹的情况，避免柔性电路板的信号端子的探针被压伤。
专利类型：	发明专利
国家地区组织代码：	湖北;42
申请人：	武汉华星光电技术有限公司
发明人：	余朋飞
专利状态：	有效
申请日期：	2019-07-17T00:00:00+0800
发布日期：	2019-10-01T00:00:00+0800
申请号：	CN201910644712.X
公开号：	CN110296936A
代理机构：	深圳翼盛智成知识产权事务所(普通合伙)
代理人：	黄威
分类号：	G01N21/01(2006.01);G;G01;G01N;G01N21
申请人地址：	430079 湖北省武汉市东湖开发区高新大道666号生物城C5栋
主权项：	1.一种点灯测试治具，其特征在于，所述点灯测试治具包括：基座；第一固定构件，用于固定测试面板，所述测试面板上设有柔性电路板；第二固定构件，用于固定所述柔性电路板的信号端子；测试端子；对位构件，用于对位所述测试端子以及固定在所述第二固定构件中的信号端子；测试构件，连接所述测试端子。 2.如权利要求1所述的点灯测试治具，其特征在于，所述对位构件包括升降板、以及支撑杆，所述测试端子位于所述升降板上。 3.如权利要求2所述的点灯测试治具，其特征在于，所述测试构件包括第一按钮，所述第一按钮用于控制所述升降板上升或者下降。 4.如权利要求3所述的点灯测试治具，其特征在于，所述测试构件包括第二按钮，所述第二按钮用于打开或者关闭点灯程式。 5.如权利要求4所述的点灯测试治具，其特征在于，所述点灯测试治具包括数据线，所述数据线用于连接所述测试构件与所述测试端子。 6.如权利要求1所述的点灯测试治具，其特征在于，所述第二固定构件底部设有绝缘层，所述绝缘层之下设有磁性材料。 7.如权利要求6所述的点灯测试治具，其特征在于，所述磁性材料为合金、铁氧体、或者金属间化合物。 8.如权利要求1所述的点灯测试治具，其特征在于，所述第二固定构件底部设有粘性材料。 9.如权利要求1所述的点灯测试治具，其特征在于，所述第一固定构件为凹槽，所述凹槽的尺寸对应于所述测试面板的尺寸。 10.一种如权利要求1至9任一项所述的点灯测试治具的测试方法，其特征在于，包括步骤：提供测试面板，将所述测试面板固定至第一固定构件内；将所述测试面板的柔性电路板的信号端子固定至第二固定构件内；按下第一按钮，所述点灯测试治具下移至测试端子与所述信号端子电连接，按下第二按钮，打开点灯程式，检验产品画面；按下第二按钮，关闭点灯程式，按下第一按钮，所述点灯测试治具上移，使得所述测试端子与所述信号端子分离；取出所述测试面板，完成测试。
所属类别：	发明专利